掃描電鏡高溫原位系統(tǒng)-基礎(chǔ)版
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 廈門超新芯科技有限公司
- 品牌 CHIPNOVA
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2023/12/27 10:15:35
- 訪問次數(shù) 1994
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 分辨率 | 掃描電鏡極限分辨率 |
|---|
我們的優(yōu)勢
高分辨率和可靠性
1．MEMS微加工工藝，加熱芯片視窗區(qū)域的氮化硅膜厚度最薄可達(dá)10nm，可達(dá)到掃描電鏡極限分辨率。
優(yōu)異的熱學(xué)性能
1．高精密紅外測溫校正，微米級高分辨熱場測量及校準(zhǔn)，確保溫度的準(zhǔn)確性。
2．超高頻控溫方式，排除導(dǎo)線和接觸電阻的影響，測量溫度和電學(xué)參數(shù)更精確。
3．采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲（非陶瓷材料），既是熱導(dǎo)材料又是熱敏材料，其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系，加熱區(qū)覆蓋整個(gè)觀測區(qū)域，升溫降溫速度快，熱場穩(wěn)定且均勻，穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動±1℃。
4．采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式，高頻反饋控制消除誤差，控溫精度±1 ℃。
5．多級復(fù)合加熱MEMS芯片設(shè)計(jì)，控制加熱過程熱擴(kuò)散，極大抑制升溫過程的熱漂移，確保實(shí)驗(yàn)的高效觀察。
6．加熱絲外部由氮化硅包覆，不與樣品發(fā)生反應(yīng)，確保實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性。
技術(shù)參數(shù)
| 類別 | 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
| 基本參數(shù) | 臺體材質(zhì) | 高強(qiáng)度鈦合金 |
| 分辨率 | 掃描電鏡極限分辨率 | |
| 適用電鏡 | ZEISS | |
| EDS/EBSD | 支持 |
應(yīng)用案例
Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GC
SEM images
ZIF-67 after heated
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