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            QUASAR-R100系列 反射式膜厚儀

            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 公司名稱 北京愛蛙科技有限公司
            • 品牌 晶諾微
            • 型號 QUASAR-R100系列
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 更新時間 2024/4/2 17:12:36
            • 訪問次數(shù) 160
            產(chǎn)品標(biāo)簽

            薄膜測量反射式

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            愛蛙科技(iFrog Technology)致力于應(yīng)用光譜知識來開啟認知和解決問題,幫助工業(yè)界和科研人員應(yīng)對新時代新課題的挑戰(zhàn),利用光的力量促進更健康、更安全、更環(huán)保的發(fā)展。北京愛蛙科技有限公司是海洋光學(xué)(Ocean Insight)合作伙伴,提供光譜分析儀器銷售、租賃、維護,以及解決方案定制、軟件開發(fā)在內(nèi)的全鏈條一站式精準(zhǔn)服務(wù)。


            光譜傳感解決方案,定制開發(fā),光譜儀,光學(xué)元件,膜厚儀,缺陷檢測

            反射式膜厚儀 QUASAR-R100系列


            反射式膜厚儀 QUASAR-R100 是一款體積小巧的光譜反射式膜厚、折射率等測量儀器,操作簡單,極易上手,應(yīng)用廣泛,快速準(zhǔn)確的提供各種薄膜厚度的測量,如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亞胺、透明導(dǎo)電層、光刻膠等介質(zhì)薄膜、半導(dǎo)體薄膜以及各種涂層。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽能、LED、OLED、液晶、聚合物鍍膜及科研實驗室鍍膜等領(lǐng)域。反射式膜厚儀QUASAR-R100軟件還擁有豐富的的材料數(shù)據(jù)庫??蛻暨€可以通過軟件及自帶數(shù)據(jù)庫對材料,菜單進行管理,并具有豐富的數(shù)據(jù)查看、統(tǒng)計功能。


            反射式膜厚儀 QUASAR-R100產(chǎn)品的特點


            ~多參數(shù)測量

            可測量材料厚度、折射率(Refractive Index)、 消光系數(shù)(Extinction Coefficient)和反射率。


            ~各種形狀樣品測量

            可測量例如4~8英寸的晶圓、方形樣品或其他各種不規(guī)則形狀樣品。


            ~軟件功能豐富

            友善的用戶界面以及靈活豐富的軟件功能,各種豐富的數(shù)據(jù)分析及查看功能。


            ~簡單、易用

            測量流程簡單,用戶極易上手建立測量程式。


            反射式膜厚儀 QUASAR-R100應(yīng)用的領(lǐng)域

            ~半導(dǎo)體鍍膜

            ~光刻膠
            ~抗反膜測量
            ~藍寶石鍍膜
            ~ITO 玻璃

            ~液晶面板鍍膜
            ~太陽能鍍膜
            ~汽車硬度層厚度
            ~其他介質(zhì)膜厚度

            反射式膜厚儀 QUASAR-R100 產(chǎn)品的參數(shù)規(guī)格


            型號

            Quasar   R100

            厚度測量范圍

            15nm~10um

            光源

            380-1100nm

            測量nk最小厚度

            50nm

            準(zhǔn)確度(較大者)

            2nm

            or   0.2%

            精度(1σ)

            0.02nm

            穩(wěn)定性★   (1σ)

            0.04nm

            光斑尺寸

            標(biāo)準(zhǔn)1.5mm

            可選配最小20um

            樣品大小

            直徑1mm~3mm,以及更大


            ★Si基底上對厚度約500nm的SiO2薄膜樣品連續(xù)測量30次數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差


            ~產(chǎn)品的定制功能

            • 可根據(jù)客戶需求搭配自動運動平臺

            • 可根據(jù)客戶需求配置小光斑




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