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            產(chǎn)品展廳

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            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 公司名稱 北京儀光科技有限公司
            • 品牌 ZEISS/蔡司
            • 型號
            • 產(chǎn)地
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 更新時間 2025/3/10 19:17:34
            • 訪問次數(shù) 618

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              北京儀光科技,專注顯微形貌分析!
              北京儀光科技有限公司是一家專門從事三維共聚焦白光干涉輪廓儀、臺式掃描電鏡/臺階儀/電鏡原位分析、各進口及國產(chǎn)品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、超景深顯微鏡、大型掃描電子顯微鏡、超薄切片機、清潔度分析儀、金相及巖相制樣設備、顯微相機、冷熱臺、陰極發(fā)光臺、光學平臺等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應用檢測等全套分析檢測解決方案。
              我司代理西班牙Sensofar三維共聚焦白光干涉儀、德國徠卡等進口及國產(chǎn)各類型光學顯微鏡、安徽澤攸臺式掃描電鏡&臺階儀&電鏡原位分析、美國RMC超薄切片機/半薄切片機、德國蔡司大型掃描電鏡、丹麥司特爾金相制樣、英國Linkam冷熱臺、陰極發(fā)光臺、防震平臺等材料制備及微觀分析儀器。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、船舶、汽車、工業(yè)材料、電子半導體、電力、能源、檢測分析等各個行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務為科研和工業(yè)等用戶提供專業(yè)、全面的顯微形貌分析應用解決方案。
              愿景:讓科學研究和技術(shù)創(chuàng)新更便捷、更高效!
              使命:為材料用戶提供準確、可靠、全面的毫米級到納米級樣品制備及微觀形貌分析解決方案!

             

            西班牙Sensofar共聚焦白光干涉儀、澤攸臺式電鏡&臺階儀&原位分析、徠卡等光學顯微鏡、RMC超薄切片機、Linkam冷熱臺

            產(chǎn)地類別 進口 應用領(lǐng)域 綜合

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡:用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

            將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)果。

            (一)、產(chǎn)品特點

            1. 用于清晰成像的靈活探測

            • 利用探測術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

            • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

            • 利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            2. 自動化加速工作流程

            • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

            • 首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

            • 接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的一步,將結(jié)果可視化。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            3. 高級分析型顯微鏡

            • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

            • 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

            • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            4. 基于成熟的 Gemini 技術(shù)

            • Gemini 鏡頭的設計結(jié)合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

            • Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率,通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。

            • Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            5. 用于清晰成像的靈活探測

            • 利用新的探測技術(shù)表征所有的樣品。

            • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。

            • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。

            • 利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。

            • 利用 BSD 或者 YAG 探測器進行成份分析。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            (二)、配件

            1. SmartEDX

            為您帶來一體化能譜分析解決方案

            如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:

            • 優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過率,可以探測輕元素的低能X射線。

            • 工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復性。

            • 完整的服務和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            2. 拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

            集成化的拉曼成像

            在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中的化學指紋信息,從而指認其成分。

            • 識別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息

            • 可進行3D分析,在需要時可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)

            • 集成RISE讓您體驗由SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            3. 基于蔡司場發(fā)射掃描電鏡的原位實驗平臺

            通過集成的一體化解決方案建立材料性能與微結(jié)構(gòu)之間的關(guān)聯(lián)

            蔡司開發(fā)了自動化的原位加熱與拉伸實驗平臺,能夠向您揭示材料微結(jié)構(gòu)的變化是如何影響材料宏觀性能的。基于此平臺,能夠自動觀察材料在加熱和拉伸過程中的變化,并隨時繪制材料的拉力-應力曲線。通過集成該原位加熱與拉伸實驗解決方案,將極大的擴展您的蔡司場發(fā)射掃描電鏡的功能,從而助力金屬,合金,高分子材料,塑料,復合材料以及陶瓷等材料的深入研究。

            該原位實驗平臺將力學拉伸/壓縮樣品臺,加熱單元,以及專為高溫環(huán)境設計的二次電子和背散射電子探測器,與EDSEBSD分析相結(jié)合。得益于蔡司Gemini電子光學鏡筒設計,使上述原位硬件的集成變得非常簡單。所有系統(tǒng)部件均通過安裝于單臺電腦上的統(tǒng)一的軟件界面控制,從而實現(xiàn)了自動化的,無人值守的材料測試過程。系統(tǒng)允許定義多個感興趣區(qū)域(ROI),并通過自動特征點追蹤功能,為您重新定義了自動化連續(xù)成像和分析(例如EDSEBSD)的標準。

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            安裝在SEM倉室內(nèi)的拉伸/加熱臺

            優(yōu)勢:

            • 簡單而快速的實驗設置,在數(shù)據(jù)采集過程中無需人工監(jiān)視

            • 自動化的原位實驗流程,保證了數(shù)據(jù)采集具有高重復性,高精度,以及不依賴于操作人員的高可靠性

            • 同時保證高通量和高分辨數(shù)據(jù)采集,可快速獲得在統(tǒng)計意義上具有代表性的結(jié)果

            • 高質(zhì)量的數(shù)據(jù)保證了可靠的后期數(shù)據(jù)處理,例如由可使用GOM開發(fā)的數(shù)字圖像關(guān)聯(lián)(DIC)技術(shù)軟件處理產(chǎn)生的應力分布圖

            • 簡便的數(shù)據(jù)管理





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