BX53-P 偏光顯微鏡
- 公司名稱 儀景通光學(xué)科技（上海）有限公司
- 品牌 儀景通
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/23 13:57:13
- 訪問(wèn)次數(shù) 257
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
偏振光觀察的新標(biāo)準(zhǔn)
奧林巴斯 BX53-P 偏光顯微鏡采用 UIS2 無(wú)限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)設(shè)計(jì)，在偏光應(yīng)用中具有出色的性能。擴(kuò)展的兼容補(bǔ)償器系列使 BX53-P 偏光顯微鏡用途廣泛，幾乎可以處理任何領(lǐng)域的觀察和測(cè)量應(yīng)用。
UIS2 光學(xué)系統(tǒng)提供出色的可擴(kuò)展性
UIS2 光學(xué)系統(tǒng)充分利用了無(wú)限遠(yuǎn)校正的優(yōu)勢(shì)，有助于防止光學(xué)顯微鏡性能下降并消除放大因素，即使將偏振元件（如分析器、色板或補(bǔ)償器）引入光路也是如此。BX53-P 顯微鏡還接受適用于 BX3 系列顯微鏡以及相機(jī)和成像系統(tǒng)的中間附件。
石英閃長(zhǎng)巖中的斜長(zhǎng)石的帶狀結(jié)構(gòu)。 *比例表示樣品的實(shí)際尺寸
MBBA 的光學(xué)結(jié)構(gòu) *尺度表示樣本的實(shí)際尺寸
用于錐光和正交觀察的勃氏透鏡
使用錐光觀察附件，在正交觀察和錐光觀察之間切換非常簡(jiǎn)單。它可聚焦，以便觀察清晰的后焦平面干涉圖案。伯特蘭透鏡可聚焦，以便清晰地觀察后焦平面干涉圖案。視場(chǎng)光闌使始終獲得清晰的錐光圖像成為可能。
種類繁多的補(bǔ)償器和波片
有六種不同的補(bǔ)償器可用于測(cè)量巖石和礦物薄片中的雙折射。測(cè)量延遲水平范圍為 0 至 20λ。為了便于測(cè)量并獲得高圖像對(duì)比度，
可以使用 Berek 和 Senarmont 補(bǔ)償器，它們會(huì)改變整個(gè)視野中的延遲水平。
補(bǔ)償器的測(cè)量范圍
| 補(bǔ)償器 | 測(cè)量范圍 | 應(yīng)用 |
|---|---|---|
| 蒂克貝雷克 (U-CTB) | 0–11000 納米 （20λ） | 高延遲水平 (R*>3λ) 的測(cè)量，（晶體、大分子、纖維等） |
| 貝雷克 (U-CBE) | 0–1640 納米 (3λ) | 延遲水平的測(cè)量（晶體、大分子、生物體等） |
| Senarmont 補(bǔ)償器 (U-CSE) | 0–546 納米 (1λ) | 測(cè)量延遲水平（晶體、生物體等）； 增強(qiáng)圖像對(duì)比度（生物體等） |
| 支撐-科勒 補(bǔ)償器1/10λ (U-CBR1) | 0–55 納米 (1/10λ) | 低度遲鈍水平的測(cè)量（生物體等） |
| 支撐-科勒 補(bǔ)償器1/30λ (U-CBE2) | 0–20 納米 （1/30λ） | 圖像對(duì)比度測(cè)量（生物體等） |
| 石英楔塊 (U-CWE2) | 500–2200 納米 (4λ) | 延遲水平的近似測(cè)量（晶體、大分子等） |
*R = 延遲級(jí)別
為了獲得更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，我們建議將補(bǔ)償器（U-CWE2 除外）與干涉濾光片 45-IF546 一起使用
最小應(yīng)變光學(xué)元件
我們的偏光物鏡將內(nèi)部應(yīng)變降低。這意味著更高的 EF 值，從而產(chǎn)生出色的圖像對(duì)比度。
堅(jiān)固而精確的旋轉(zhuǎn)臺(tái)
旋轉(zhuǎn)臺(tái)上安裝的旋轉(zhuǎn)定心機(jī)構(gòu)可使樣品平穩(wěn)旋轉(zhuǎn)。此外，每 45 度處都有一個(gè)止動(dòng)機(jī)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量。使用可選的雙機(jī)械臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)謹(jǐn)慎的 XY 移動(dòng)。
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