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            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            具體成交價以合同協(xié)議為準

            聯(lián)系方式:西努光學查看聯(lián)系方式

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            西努光學創(chuàng)建于2003 年,主營工業(yè)顯微鏡及制樣設備、鏡片測定設備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內窺鏡、機器視覺等工業(yè)及科研應用的檢測設備及系統(tǒng)集成。
            西努光學秉承“以光學為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路,經(jīng)過16年的努力,成為眾多企業(yè)、高??蒲袉挝惶峁└鞣N專業(yè)化的光學系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,為客戶提供更優(yōu)質、快捷的專業(yè)化服務。
            2016 年,我們積極引進檢測設備的同時導入制樣等配套設備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結果分析的一站式體驗服務。



            奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內窺鏡,iX高速攝像機,標樂金相制樣設備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學設備

            應用領域 綜合


            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng):快速、精確、一鍵分析

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            需要多臺設備配套:

            僅憑放大觀察并不能查明成分

            需要使用多臺設備或委托外部分析


            需要進行預處理:

            對進入分析設備內的尺寸有限制,需要破壞或切斷目標物

            需要進行目標物表面的導電性處理、分析設備內部的真空處理


            對實驗員素養(yǎng)要求高:

            由于分析設備具有高專業(yè)性,只有少數(shù)人會操作


            只有具備專業(yè)知識,才能根據(jù)檢測到的元素判斷物質

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



            只需一臺即可完成

            只需一臺即可快速執(zhí)行從放大觀察到元素判別   要進行元素判別的人員可當場進行作業(yè)


            無需預處理

            對目標物尺寸沒有限制,無需破壞也可直接分析

            在空氣中進行分析,無需進行導電性處理及真空處理


            輕松進行元素判別

            使用顯微系統(tǒng)觀察的同時,一鍵點擊即可進行元素判別   根據(jù)內部數(shù)據(jù)庫,瞬時推測檢測物質


            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)



            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)


            型號

            CIS- LIBS






            LIBS光學模塊

            檢測原理

            激光誘導擊穿光譜法

            檢測性質

            定性及半定量

            檢測能力

            %水平 (取決于元素)

            檢測環(huán)境要求

            無, 分析在大氣條件下進行 (無, 常溫常壓條件下進行)

            對應元素

            CU、A

            SUS、 Fe、 L

            C、cr 、Mg、Mn  N

            T

            Y、zn 、Au等常見元素



            激光

            激光類型

            Nd :YAG (半導體泵浦)

            激光波長

            355nm

            單脈沖能量

            <100UJ

            脈沖寬度

            ≤1 . 5ns

            點規(guī)格

            15um  (typ)

            燒蝕深度

            1 - 10um (取決于材料



            光譜儀

            光譜范圍

            200至780nm

            光譜分辨率

            0 . 15nm

            信噪比

            500


            探測器

            CMOS探測器


            激光鏡頭

            鏡頭類型

            專屬規(guī)格透射型鏡頭

            鏡頭倍數(shù)

            7X

            工作距離

            18mm






            掃描光學模塊


            入射光軸

            相差觀察方法

            奧林巴斯BX53M ,  BF明場照明

            物鏡

            5X, 10X,20X,50X

            可選


            照明

            大功率數(shù)字LED, 軟件可控, 帶記憶模式

            偏光系統(tǒng)

            偏光00與偏光90o 自動數(shù)字切換, 帶記憶模式


            數(shù)字成像

            相機型號

            DFK33UX249

            相機分辨率

            1920x1200  (2 . 3mp)

            相機靶面


            2英寸

            幀速

            48FPS


            掃描載物臺

            載物臺方向

            XYZ三軸

            行程范圍

            Xy軸125x75mm, z軸35mm

            分辨率

            0 . 1um(軟件控制)

            精度

            <5μm

            控制方式

            軟件自動控制+遙桿細分控制


            生成報告

            生成方式

            自動生成

            報告內容

            單顆粒材質專業(yè)報告

            全顆粒材質專業(yè)報告

            電腦

            15處理器, 16G內存, 硬盤1TB,顯示器22寸

            設備電源

            供電方式

            AC 220V50Hz

            保修期

            整機12個月

            耐環(huán)境性

            使用環(huán)境溫度

            +10至45

            使用環(huán)境濕度

            。至85%RH (無冷凝)

            重量

            系統(tǒng)

            約50KG

            外形尺寸

            寬度490mm x高度600mm x縱深840mm


            CIS-LIBS顆粒元素分析系統(tǒng)

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