FWS 涂層厚度與膜重測(cè)試站
- 公司名稱 工業(yè)物理
- 品牌 SpecMetrix
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/29 15:58:08
- 訪問(wèn)次數(shù) 702
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,印刷包裝,冶金,汽車 |
SpecMetrix® FWS 膜重測(cè)試站
SpecMetrix® 膜重測(cè)試站為實(shí)驗(yàn)室提供非接觸式、非破壞性、實(shí)時(shí)的薄膜重量和涂層厚度測(cè)量數(shù)據(jù)。
由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測(cè)試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量。
SpecMetrix®膜重測(cè)試站提供了非接觸、非破壞性、實(shí)時(shí)的離線厚度測(cè)量測(cè)試，適用于涂層樣品和平板薄膜。膜重測(cè)試站具有高度精確和快速的特點(diǎn)，通過(guò)單點(diǎn)和掃描模式進(jìn)行厚度測(cè)試。
此外，它還可以在實(shí)驗(yàn)室或涂布線上對(duì)干涂層薄膜或卷帶進(jìn)行自動(dòng)化的長(zhǎng)度和寬度掃描測(cè)量。
簡(jiǎn)化質(zhì)量控制流程
SpecMetrix®膜重測(cè)試站旨在簡(jiǎn)化質(zhì)量控制測(cè)試，并改善對(duì)膜重和涂層厚度的過(guò)程控制。由于其強(qiáng)大能力，能夠以亞微米級(jí)精度識(shí)別和量化絕對(duì)膜重厚度，它是我們推薦的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量工具之一。
膜重測(cè)試站系統(tǒng)加速了離線薄膜測(cè)試，并改善了來(lái)料和成品檢驗(yàn)。
多功能測(cè)量能力
SpecMetrix®膜重測(cè)試站提供可靠且可重復(fù)的測(cè)量：
· 精確快速地分析膜重
· 非接觸、非破壞性測(cè)量 – 確保樣品的完整性
· 測(cè)量濕樣或干樣，以及透明或有色著色基材
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層，精度可達(dá)到亞微米級(jí)
完整的涂層洞察
SpecMetrix®膜重測(cè)試站提供了可靠性和可重復(fù)性，允許用戶獲取準(zhǔn)確的涂層測(cè)試數(shù)據(jù)和質(zhì)量控制。
憑借SpecMetrix的精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)，用戶可以為其產(chǎn)品和樣品獲取完整的膜重和涂層測(cè)量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過(guò)非接觸和非破壞性手段獲得涂層測(cè)量。
該技術(shù)也非常安全——無(wú)放射性和無(wú)侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度先進(jìn)，并在涂層行業(yè)中廣泛應(yīng)用。
強(qiáng)大的SensorMetric軟件
作為測(cè)量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。
此外，我們的軟件還包括一個(gè)配方助手，幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有配方。
可選的系統(tǒng)配置
SpecMetrix®膜重測(cè)試站設(shè)計(jì)為模塊化，因此可以輕松重新配置或升級(jí)系統(tǒng)以滿足您的測(cè)試和測(cè)量需求。
請(qǐng)與我們的專家團(tuán)隊(duì)討論您的測(cè)試和測(cè)量要求。我們可以為您的實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線需求建議最佳系統(tǒng)解決方案。無(wú)論是離線、周期性在線還是全在線系統(tǒng)——我們都可以提供適合您需求的測(cè)量系統(tǒng)。
功能和優(yōu)點(diǎn)
· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計(jì)，具備從質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間的即時(shí)膜重測(cè)量能力。
· 非接觸式 – 測(cè)量過(guò)程中不接觸涂層或基材，保持樣品和部件的完整性。
· 絕對(duì)厚度測(cè)量 – 超高精度的實(shí)時(shí)涂層和膜厚度測(cè)量，加速樣品測(cè)試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。
· 基材獨(dú)立 – 適用于濕樣或干樣的透明、有色或著色基材的測(cè)量。
· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測(cè)量單層或雙層涂層，精度達(dá)到亞微米級(jí)。
· 高度精確 – 相比浮動(dòng)探頭，膜重測(cè)量工具更快且更精確。
· 無(wú)危害性 – 采用非放射性和非侵入性的ROI和EXR增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)。
· 環(huán)保 – 非破壞性測(cè)試方法有助于減少?gòu)U料、返工勞動(dòng)力和能源成本。
· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包自動(dòng)將所有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中。
規(guī)格
測(cè)量范圍: 0.2至250微米（涂層厚度）
精度: 涂層厚度的±1%（標(biāo)稱值）* 基于使用NIST可追溯的厚度標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的整個(gè)測(cè)量范圍（0.2至250微米）的精度驗(yàn)證
測(cè)量速度: 每秒最多100次
溫度范圍: 0°至45°C
輸出指標(biāo): 微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令
操作系統(tǒng): Windows®平臺(tái)
制造: 美國(guó)制造
認(rèn)證: CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證
采購(gòu)中心
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