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            產(chǎn)品展廳

            產(chǎn)品求購(gòu)企業(yè)資訊會(huì)展

            發(fā)布詢價(jià)單
            徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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            Zeta-388 白光共聚焦顯微鏡

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            聯(lián)系方式:董思卿查看聯(lián)系方式

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                        北京圣達(dá)駿業(yè),專注于工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,以客戶需求為導(dǎo)向,從成立之初的紅外測(cè)溫,工控傳感兩個(gè)產(chǎn)品線,經(jīng)過十八年的行業(yè)積累和沉淀,建立了良好的客戶信任和全面的廠家渠道。產(chǎn)品線拓展為現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),實(shí)驗(yàn)室分析相關(guān)十余種。

            廣泛服務(wù)于環(huán)保,電力,石油,化工,制藥,工礦等企業(yè),及科研院所,高校實(shí)驗(yàn)室。

            秉承為客戶創(chuàng)造價(jià)值,互利共贏,薄利多銷,共同發(fā)展的理念,致力于為客戶甄選具有服務(wù)質(zhì)量,口碑好,性價(jià)比高的產(chǎn)品,做客戶信得過的*儀器儀表集成服務(wù)商。

            堅(jiān)持誠(chéng)信,專業(yè),高效,感恩的態(tài)度,為客戶提供行業(yè)動(dòng)態(tài),項(xiàng)目設(shè)計(jì),方案咨詢,產(chǎn)品選型,專業(yè)采購(gòu)和安裝培訓(xùn)等全程優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

            北京圣達(dá)駿業(yè)科技有限公司正在不斷完善產(chǎn)品線,以便為您提供更好的服務(wù)!

             

            超聲波流量計(jì)、地下水采樣器、紅外光譜儀、水質(zhì)自動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)、煙氣分析儀

            產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,綜合

             Zeta-388支持3D量測(cè)和成像功能,并提供整合隔離工作臺(tái)和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。Zeta-388具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡(jiǎn)單易用的軟件、低擁有成本,以及SECS / GEM通信,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。


            產(chǎn)品描述

              Zeta-388光學(xué)輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。 Zeta-388繼承了Zeta-300的功能,并增加了晶圓盒至晶圓盒機(jī)械臂,可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)和Multi-Mode (多模式)光學(xué)系統(tǒng),可以對(duì)各種不同的樣品進(jìn)行測(cè)量:透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級(jí)別的臺(tái)階高度。


              Zeta-388的配置靈活并易于使用,并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)。ZDot測(cè)量模式可同時(shí)收集高分辨率3D掃描和True Color無限遠(yuǎn)焦距圖像。其他3D測(cè)量技術(shù)包括白光干涉測(cè)量、Nomarski干涉對(duì)比顯微鏡和剪切干涉測(cè)量。ZDot或集成寬帶反射計(jì)都可以對(duì)薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量。Zeta-388也是一款顯微鏡,可用于樣品檢查或自動(dòng)缺陷檢測(cè)。Zeta-388通過提供臺(tái)階高度、粗糙度和薄膜厚度的測(cè)量以及缺陷檢測(cè)功能,以及晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。


            白光共聚焦顯微鏡主要功能

            •       采用ZDot和Multi-Mode(多模式)光學(xué)器件的簡(jiǎn)單易用的光學(xué)輪廓儀,具有廣泛的應(yīng)用

            •       可用于樣品復(fù)檢或缺陷檢測(cè)的高質(zhì)量顯微鏡

            •       ZDot:同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像

            •       ZXI:白光干涉測(cè)量技術(shù),適用于z向分辨率高的廣域測(cè)量

            •       ZIC:干涉對(duì)比度,適用于亞納米級(jí)別粗糙度的表面并提供其3D定量數(shù)據(jù)

            •       ZSI:剪切干涉測(cè)量技術(shù)提供z向高分辨率圖像

            •       ZFT:使用集成寬帶反射計(jì)測(cè)量膜厚度和反射率

            •       AOI:自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),并對(duì)樣品上的缺陷進(jìn)行量化

            •       生產(chǎn)能力:通過測(cè)序和圖案識(shí)別實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量

            •       晶圓傳送機(jī)械臂: 自動(dòng)加載直徑為50mm至200mm的不透明(如硅)和透明(如藍(lán)寶石)樣品


            白光共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用

            •       臺(tái)階高度:納米到毫米級(jí)別的3D臺(tái)階高度

            •       紋理:平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度

            •       外形:3D翹曲和形狀

            •       應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力

            •       薄膜厚度:30nm到100μm透明薄膜厚度

            •       缺陷檢測(cè):捕獲大于1μm的缺陷

            •       缺陷復(fù)檢:采用KLARF文件作為導(dǎo)航以測(cè)量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置

            工業(yè)應(yīng)用

            •       LED:發(fā)光二極管和PSS(圖案化藍(lán)寶石基板)

            •       半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

            •       半導(dǎo)體 WLCSP(晶圓級(jí)芯片級(jí)封裝)

            •       半導(dǎo)體FOWLP(扇出晶圓級(jí)封裝)

            •       PCB和柔性PCB

            •       MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))

            •       醫(yī)療設(shè)備和微流體設(shè)備

            •       還有更多:請(qǐng)與我們聯(lián)系以滿足您的要求




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