QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀
- 公司名稱 光焱科技股份有限公司
- 品牌 Enlitech
- 型號 QFLS-Maper
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/3/14 13:46:04
- 訪問次數(shù) 22
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測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 能源 |
產(chǎn)品介紹
什么是QFLS?
QFLS準費米能級分裂(Quasi-Fermi Level Splitting),用于描述光照下光生載流子(電子和空穴)之間的非平衡態(tài)能級分布。
用于量化材料的Voc潛力,幫助研究者理解非輻射復合損失的來源。
通過逐層測試,評估不同制備工藝對材料性能的影響,為界面工程和材料優(yōu)化提供依據(jù)
準費米能級分裂(Quasi-Fermi Level Splitting,QFLS)是太陽能研究中一個重要的物理參數(shù),廣泛應用于半導體材料與光電器件的性能評估。QFLS描述了在非平衡態(tài)下,電子與空穴的準費米能級之間的能量差,并與光伏器件的開路電壓(Open-Circuit Voltage,VOC)以及光電轉換效率(Power Conversion Efficiency,PCE)密切相關。本文旨在全面探討QFLS的基本概念和定義、背景與重要性、測量方法、計算公式及其在光伏器件中的應用,并分析其未來發(fā)展方向。
在實驗中,QFLS可以通過光致發(fā)光(PL)測量技術來量化。例如,利用光子量子產(chǎn)率(PLQY)和光致發(fā)光光譜數(shù)據(jù),可以計算出QFLS值,進一步得到iVOC,來評估材料的光電轉換潛力 QFLS和Pseudo J-V的關聯(lián) Pseudo J-V曲線(擬態(tài)J-V)是一種基于量測數(shù)據(jù)理論推導重建的電流密度-電壓(J-V)曲線,通常用于評估太陽能材料或組件的效率潛力。 與實際測量的J-V曲線不同,Pseudo J-V曲線不受元件結構(如電極或傳輸層)的影響。
幫助分析材料的理論效率上限,為器件設計提供參考。
在器件制備前,快速篩選出具有高效率潛力的材料,降低實驗成本和時間
特點
QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀
● 分析材料極限:
3秒內(nèi)獲得QFLS視覺圖
2分鐘內(nèi)測得Pseudo jv
讓你迅速得知光伏材料的iVoc以及最佳IV曲線圖
● 視覺化呈現(xiàn):
QFLS Image視覺化材料整體準費米能級分布情況,材料優(yōu)劣一覽無遺
● 多模態(tài)功能:
可量測QFLS、iVoc、Pseudo jv、PL image、PLQY、ELimage、EL-EQE…等太陽能電池的關鍵參數(shù)
規(guī)格
QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀
項目 | 規(guī)格 |
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光譜檢測范圍 |
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光學強度動態(tài)范圍 |
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測量速度 |
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掃描類型 |
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多模態(tài)功能模組 |
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應用
● 單結鈣鈦礦太陽能電池
● 鈣鈦礦薄膜材料