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            PRODUCT DISPLAY

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            高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備

            參  考  價(jià):面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào):FSM 500TC

            品       牌:FSM

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:上海市

            更新時(shí)間:2024-11-09 13:35:27瀏覽次數(shù):6107次

            聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件,綜合
            美國(guó)FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備:美國(guó)FSM成立于1988年,總部位于圣何塞,多年來(lái)為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測(cè)量設(shè)備。

            美國(guó)FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備


            FSM500TC 應(yīng)力測(cè)量?jī)x

            特殊功能和優(yōu)點(diǎn)

            1.   多重導(dǎo)向銷設(shè)計(jì),手動(dòng)裝載樣品,有優(yōu)異的重復(fù)性與再現(xiàn)性研究。

            2.   優(yōu)異的分辨率——測(cè)量0.2um弓形高度變化超過(guò) 20M 的平鏡(大約 0.8%)

            3.   全3D測(cè)繪的手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)。

            4.   測(cè)量局部應(yīng)力---測(cè)量42 點(diǎn)/mm 并大于8400 點(diǎn)/200mm晶圓。這種測(cè)量密度獲得更好的信號(hào)噪聲比。

            5.   *封閉的設(shè)計(jì),溫度更穩(wěn)定。

            6.   特殊的設(shè)計(jì)使震動(dòng)偏移降到低。

            7.   圖形式使用界面更容易使用。

            8.   當(dāng)改變彈性模數(shù),晶圓或薄膜厚度設(shè)備會(huì)自動(dòng)重新計(jì)算應(yīng)力保存數(shù)據(jù)文檔。

            9.   可以計(jì)算雙軸彈性模量和線膨脹系數(shù)。

            10.  可以計(jì)算應(yīng)力的均勻性。

            11.  可以輸出數(shù)據(jù)到Excel ,提供給SPC 分析

            軟件

            軟件提供大量參考方案。參考方案是用于轉(zhuǎn)換掃描數(shù)據(jù)組。這種功能可以通過(guò)重新計(jì)算數(shù)據(jù)組去獲得不同環(huán)境的快速答案,而不用再次測(cè)量晶圓,這會(huì)節(jié)約許多時(shí)間和金錢。

            有些情況下初始晶圓是沉積晶圓,而用戶需要參考一張裸片去計(jì)算應(yīng)力。我們的軟件可以讓用戶開(kāi)啟加熱循環(huán),然后清除沉積物做*掃描測(cè)量。這為客戶提供了靈活性,不限于*掃描,第二次掃描序列。

            多層薄膜測(cè)量,用戶可以執(zhí)行在首層第二層以外的不同層的多層掃描。它也允許用戶計(jì)算由不同層產(chǎn)生的應(yīng)力或由所有鋪設(shè)層在相同的數(shù)據(jù)文件中提供的組合應(yīng)力。這大大提高了設(shè)備的測(cè)量能力,特別適用于研究環(huán)境里。

            美國(guó)FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備

            為了測(cè)量應(yīng)力,單片晶圓在掃描線上會(huì)被測(cè)量?jī)纱?,而晶圓的放置正確是獲得準(zhǔn)確和重復(fù)性好的數(shù)據(jù)的關(guān)鍵。因此我們的晶圓卡盤專門設(shè)計(jì)成非常容易地準(zhǔn)確放置晶圓,這不需要用戶太多的操作技巧,進(jìn)一步降低對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。



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