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光電測(cè)試探針臺(tái),晶圓光電流測(cè)試 參考價(jià)：面議
這款光電測(cè)試探針臺(tái)是專業(yè)為8英寸和12英寸晶圓光電流測(cè)試設(shè)計(jì)的專業(yè)半自動(dòng)變溫光電探針臺(tái),可滿足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍-60~350℃...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)晶圓測(cè)試探針臺(tái)是專業(yè)為晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的專業(yè)手動(dòng)探針臺(tái),可滿足6英寸,8英寸和12英寸晶圓測(cè)試需要,測(cè)試溫度范圍室溫~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測(cè)量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個(gè)四點(diǎn)探針、源測(cè)量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測(cè)量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測(cè)試設(shè)計(jì)的納米級(jí)微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級(jí)微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái) 參考價(jià)：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺(tái)VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過(guò)程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺(tái)。
高壓探針臂,高壓電流探針測(cè)試,probe arm 參考價(jià)：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測(cè)試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價(jià)：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測(cè)量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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