目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>表面微納測量>> FPAPE-SNOM掃描近場光學(xué)顯微鏡
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
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這款掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM融合了新代的掃描探針技術(shù)和光學(xué)顯微鏡技術(shù)，它把微型光學(xué)探針非常接近材料樣品表面，實(shí)現(xiàn)近場成像，掃描近場光學(xué)顯微鏡獲得光學(xué)信息后提供的圖像分辨率可達(dá)100nm以下,在SNOM顯微鏡品牌中擁有高性價(jià)比SNOM顯微鏡價(jià)格。
掃描近場光學(xué)顯微鏡Scanning Near Field Optical Microscope可獲得阿貝衍射極限的分辨率，采用掃描探針顯微鏡壓電式掃描技術(shù)和微型光學(xué)探針，可獲得亞波長分辨率的光學(xué)圖像。
掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM特色
集成雙光學(xué)視圖系統(tǒng)用于精確定位和遠(yuǎn)場光學(xué)研究
兼容寬視場光學(xué)顯微鏡模式
獨(dú)立或同時(shí)的透射和反射測量模式
超大工作波長范圍
允許光源倒置或吊射
獨(dú)立的光電探測器用于多重光信號收集
就有可擴(kuò)展性
兼容第三方科學(xué)研究儀器
掃描近場光學(xué)顯微鏡SNOM應(yīng)用
納米科技
材料科學(xué)
生命科學(xué)
生物學(xué)
高分子研究
半導(dǎo)體研究
以衍射極限的分辨率獲取樣品光學(xué)圖像
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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