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            目錄:深圳市天創(chuàng)美科技有限公司>>電鍍層檢測儀>>電鍍膜厚>> 膜厚檢測儀器設備機

            膜厚檢測儀器設備機
            • 膜厚檢測儀器設備機
            • 膜厚檢測儀器設備機
            參考價 98600
            訂貨量 ≥1
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            98600
            ≥1
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 品牌 其他品牌
            • 型號
            • 廠商性質 生產商
            • 所在地 深圳市
            屬性

            應用領域:文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金

            >

            更新時間:2025-01-20 08:41:30瀏覽次數(shù):2836評價

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            應用領域 文體,電子,印刷包裝,紡織皮革,冶金
            膜厚檢測儀器設備機
            樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié),多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。
            設計更科學,軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全于國標GBZ115-2002要求。

            我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。

            膜厚檢測儀器設備機

            產品介紹:

            新一代國產專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業(yè)界。

            采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

            微移動平臺和清CCD搭配,旋鈕調節(jié)設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

            樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié),多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。

            設計更科學,軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全于國標GBZ115-2002要求。

            軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

            產品指標::

            金屬元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
            同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
            分析含量一般為ppm到99.9% 。
            鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
            任意多個可選擇的分析和識別模型。
            相互獨立的基體效應校正模型。
            多變量非線性回收程序
            度適應范圍為15℃至30℃。
            電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

            測厚技術:X射線熒光測厚技術

            測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

            測量下限:0.003um

            測量上限:30-50um(以材料元素判定)

            測量層數(shù):10層

            測量用時:30-120秒

            探測器類型:Si-PIN電制冷

            探測器分辨率:145eV

            壓范圍:0-50Kv,50W

            X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側窗類;

            光管靶材:Mo靶;

            濾光片:3種自動切換;

            CCD觀察:260萬像素

            微移動范圍:XY15mm

            輸入電壓:AC220V,50/60Hz

            測試環(huán)境:非真空條件

            數(shù)據通訊:USB2.0模式

            準直器:?1mm,?2mm,?4mm

            軟件方法:FlexFP-Mult

            工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義

            樣品腔:330×360×100mm

            標準配件

            樣品固定支架1支

            窗口支撐薄膜:100張

            保險管:3支

            計算機主機:品牌+雙核

            顯示屏:19吋液晶

            打印機:噴墨打印機

            可選配件

            可升級為SDD探測器

            可以實現(xiàn)全自動一鍵操作功能,準直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋隨意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報告自動彈出,供應商信息自動篩選和保存

            膜厚檢測儀器設備機

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