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            目錄:江蘇天瑞儀器股份有限公司>>X熒光光譜儀系列>>能量色散>> EDX-VX射線熒光鍍層測(cè)厚儀

            X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
            • X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
            • X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
            • 型號(hào) EDX-V
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 蘇州市
            屬性

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            >

            更新時(shí)間:2024-12-30 10:33:18瀏覽次數(shù):277評(píng)價(jià)

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            儀器種類 臺(tái)式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,能源,電子
            EDX-VX射線熒光鍍層測(cè)厚儀是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款X射線熒光鍍層測(cè)厚及成分分析儀。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng),對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。

            EDX-VX射線熒光鍍層測(cè)厚儀是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款X射線熒光鍍層測(cè)厚及成分分析儀。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng),對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。


            EDX-VX射線熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
            1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測(cè)需求,專門(mén)研發(fā)適用于鍍層檢測(cè)的超近光路系統(tǒng),減少能量過(guò)程損耗。搭載先進(jìn)的多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管,極大的提升了儀器的檢測(cè)性能,聚焦強(qiáng)度提升1000~10000倍,更高的檢測(cè)靈敏度和分析精度以及高計(jì)數(shù)率保證測(cè)試結(jié)果的精確性和穩(wěn)定性。
            2、全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì),呈現(xiàn)全高清廣角視野,讓樣品觀察更全面;微米級(jí)別分辨率,更好的滿足超微產(chǎn)品的測(cè)試,讓測(cè)試更廣泛更便捷。
            3、先進(jìn)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù),信號(hào)強(qiáng)度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)。
            4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管,很好的滿足用戶不同測(cè)試需求。
            5、高精度XYZ軸移動(dòng)測(cè)試平臺(tái),結(jié)合雙激光點(diǎn)位定位系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)在樣品測(cè)試過(guò)程中的全自動(dòng)化感受一鍵點(diǎn)擊,測(cè)試更省心。

            產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
            測(cè)量超微小部件和結(jié)構(gòu),如:印制線路板、連接器或引線框架等;
            分析超薄鍍層,如:厚度薄至2nm的Au鍍層和≤30nm的Pd鍍層;
            測(cè)量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層;
            分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);
            全自動(dòng)測(cè)量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域;
            符合ENIG/ENEPIG要求,符合DINISO3497,ASTMB568,IPC4552和IPC4556標(biāo)準(zhǔn)。

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