產(chǎn)品概述：
TAS7500SU是愛德萬(wàn)測(cè)試公司推出的一款緊湊多用途的太赫茲光譜成像系統(tǒng)，它利用電磁波譜太赫茲區(qū)域（0.1~10 THz）優(yōu)良的特性，無(wú)需特設(shè)的分析環(huán)境即可進(jìn)行藥物、化學(xué)品和通信材料等的無(wú)損檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
超寬帶光譜分析：
TAS7500SU支持0.57THz（透射/反射模式）和0.56.5THz（ATR模式）的寬帶光譜分析，覆蓋了太赫茲波段的大部分頻率范圍。
新開發(fā)的切連科夫類型的太赫茲源顯著改善了高頻頻域的特性，可支持到7THz高頻的光譜分析測(cè)量。
高精度檢測(cè)技術(shù)：
利用愛德萬(wàn)測(cè)試的高精度檢測(cè)技術(shù)，可獲得優(yōu)異的采樣性能。
系統(tǒng)具有太赫茲波高穩(wěn)定的檢測(cè)性能，通過(guò)優(yōu)良技術(shù)的太赫茲光抽樣方式（電子控制掃描方式），達(dá)到業(yè)內(nèi)較快速的處理能力。
非侵入性成像分析：
TAS7500SU可對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行非侵入性成像分析，包括厚度、密度等參數(shù)的測(cè)量。
該系統(tǒng)可用于涂層厚度測(cè)量、藥片測(cè)量、藥品測(cè)量以及太赫茲通信材料測(cè)量等多種應(yīng)用。
多種測(cè)量模式：
系統(tǒng)支持透射、反射、ATR等多種測(cè)量模式，可對(duì)應(yīng)各種樣品類型和測(cè)量需求。
透射模式適用于透明或半透明樣品的測(cè)量；反射模式適用于不透明樣品的表面測(cè)量；ATR模式則適用于薄膜或涂層的測(cè)量。
模塊化和可擴(kuò)展性：
TAS7500SU系統(tǒng)具有模塊化的設(shè)計(jì)，方便用戶根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行選擇和配置。
可選配不同型號(hào)的測(cè)試模塊，以支持液體、固體和粉末形式的樣品測(cè)量。
可追加測(cè)試模塊以支持較高/較低溫度的樣品測(cè)試，提供-10至+80°C（TAS1020）和室溫至+300°C（TAS1030）兩種溫度范圍的模塊。
干燥空氣過(guò)濾功能：
系統(tǒng)配備干燥空氣過(guò)濾單元，可防止在低溫條件下凝結(jié)水珠的問(wèn)題，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
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