半導體粉末電阻率測試臺 粉末電阻率測定儀 型號： SZT-D

本測試臺參照有關標準進行設計，可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬粉末進行電阻、電阻率多用途的測量。  
    組成及特點：測試臺為探頭、加壓機構、粉末標準容器、壓力檢測、厚度檢測等單元組成。壓力機構采用手動操作，壓力平穩(wěn)可調，電子數(shù)碼顯示壓力值。本儀器可一邊加壓同步測試，可方便測試不同壓力下粉末的導電性能曲線，也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關參數(shù)！本儀器具有測量精度高，操作簡便、穩(wěn)定性好，重復性好，一機多用使用方便等特點。  
    本儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法（兩個電流和電壓電同時和樣品接觸），可以消除電與導線導通電阻產生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。測試參數(shù)時同步檢測壓力和高度，也是區(qū)別于以往舊款同類測試臺新特點！便于研究材料的特性曲線！  
   本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質量的一種重要優(yōu)良工具。  
主要技術指標：  
注測量范圍由配置的主機確定，以配ST2258A數(shù)字式四探針測試儀為例：  
1、測量范圍：   
電阻率：    10-4～200X103Ω-cm  
方塊電阻：  10-3～200X 104Ω/□  
電   阻：    10-4～200X104Ω  
測量誤差±（0.3%讀數(shù)+2字）  
2、測量電壓量程： 200 mV   
   測量精度±（0.3%讀數(shù)+2字）  
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調，由交流電源供電。  
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA, 1000mA  
⑶誤差：±0.5%讀數(shù)±2 字  
4、 顯示方式3 1/2數(shù)量字顯示電阻、電阻率, 單位、小數(shù)點自動顯示。  
5、 電源：220±10% 50HZ-60HZ功率消耗<15W消耗  
6、 主機  240mm（長）×180 mm（寬）×80mm（高）  



********“SZT-D型半導體粉末電阻率測試臺”參數(shù)********  
1、  試樣粒度：40目以下（標準篩網）  
2、  試樣容器：內經：Φ11.28mm（S=1.0cm2）  
高度：0～20mm可調,帶高度尺監(jiān)測，測量誤差：±0.02mm。  
3、測試壓強  
標準壓強：P0=4Mpa±0.05Mpa，合壓力40kg±0.5 kg(S=1.0cm2)。  
   壓強量程：10Mpa, P=0～10 Mpa可調，合壓力0～100Kg,(S=1.0cm2)  
4、壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)可調。  
電子數(shù)碼顯示壓力值！四位有效顯示數(shù)0～200Kg，分別率±0.1 kg！  
5、測試臺外形：250mm（前寬）×220 mm（后長）×540mm（總高）  
       重      量：10Kg