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            廣東正業(yè)科技股份有限公司
            中級會(huì)員 | 第4年

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            X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號

            品       牌

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地

            更新時(shí)間:2023-10-18 16:07:15瀏覽次數(shù):1129次

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            品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺(tái)移動(dòng)速度:60mm/s
              X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺(tái),是全自動(dòng)測量樣品的理想設(shè)備。

            1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

            2.印刷線路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

            3.黃金成分分析

            4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層;

            5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);

            6.全自動(dòng)測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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