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            當前位置:上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>實驗室分析儀>>顯微鏡>> SKYSCAN 1272高分辨率三維 X 射線顯微鏡

            高分辨率三維 X 射線顯微鏡

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號SKYSCAN 1272

            品       牌Bruker/布魯克

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時間:2023-12-27 10:03:00瀏覽次數(shù):245次

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            產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            儀器分類 激光共聚焦顯微鏡 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥
            高分辨率三維 X 射線顯微鏡
            基于計算機斷層掃描顯微成像技術(micro-CT)的SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡,是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統(tǒng)。

            高分辨率三維 X 射線顯微鏡

            產(chǎn)品簡介
            產(chǎn)地類別進口價格區(qū)間面議
            儀器種類斷層成像應用領域生物產(chǎn)業(yè)
            基于計算機斷層掃描顯微成像技術(micro-CT)的SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡,是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統(tǒng)。

            詳情介紹

            基于計算機斷層掃描顯微成像技術(micro-CT)的SKYSCAN 1272 CMOS,是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統(tǒng),整合了最新的X射線技術。

            1600萬像素sCMOS X射線探測器提供了高的分辨率,可生成高對比度圖像。擴展的探測器視野和增強的X射線靈敏度使掃描時間縮短了一倍。每個切片的原始分辨率高達11200 x 11200像素,可以在不重新掃描樣品的情況下放大到三維體積的任何部分。新的Clean Image™掃描模式從一開始就大大減少了典型的CT偽影,從而提供了高質(zhì)量的圖像,無需繁瑣的事后校正。

            布魯克臺式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何實驗室的實驗臺上,無需占用大量昂貴的實驗室空間。只需一個標準的家用電源插頭即可運行,也不需要水冷或額外的壓縮機。此外,工業(yè)級的密封X射線源是免維護的,因此也沒有其他隱性成本。SKYSCAN 1272搭載3D.SUITE軟件。這個全面的軟件包涵蓋了GPU加速重建、2D/3D形態(tài)學分析以及表面和體積渲染的可視化。


            SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡特點:


            Genius模式


            天才模式



            SKYSCAN 1272憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。

            而且,由于能讓樣品和大尺寸sCMOS鏡頭盡可能地靠近光源,它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因,SKYSCAN 1272的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)最多可快5倍。


            自動進樣器


            Sample Changer



            SKYSCAN 1272可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器,以增加進行質(zhì)量控制和常規(guī)分析時的處理速度。

            自動進樣器可以容納不同尺寸的樣品,樣品直徑最大可達25 mm。

            可以隨時很方便地切換樣品,不會中斷正在進行的掃描過程。系統(tǒng)可以自動檢測新樣品,LED可以顯示每一次掃描的狀態(tài):準備、掃描和完成。


            原位試驗臺


            材料測試階段



            布魯克的材料試驗臺可以進行最大4400 N的壓縮試驗和最大440 N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉臺自動聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設置預定掃描試驗。

            布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到最高+80oC或z低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣,加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺,可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。


            SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡技術參數(shù):


            特點

            參數(shù)

            優(yōu)勢

            X射線源

            40 – 100 kV

            10 W

            < 5 µm 點尺寸,4 W

            免維護、全密封的X射線源

            通過快速掃描實現(xiàn)質(zhì)量控制,或4D XRM

            X射線探測器

            16 MP sCMOS 探測器(4096 x 4096 像素)排列精密的探測器可實現(xiàn)最高分辨率

            樣品尺寸

            最大直徑 75 毫米

            最大高度70 毫米

            適用于小-中等尺寸樣品

            自動進樣器(可選)

            16種樣品,直徑最大可達25 mm

            外置

            無人值守,高通量

            大小樣品隨意組合

            隨時添加/取出樣品,不中斷掃描過程

            尺寸

            1160 mm x 520 mm x  330 mm(寬x深x高)

            重量 150 千克

            節(jié)省空間的、適合每一個實驗室的臺式系統(tǒng)

            電源

            100-240V AC,50-60Hz,最大3A

            安裝需求低,標準電源即能滿足要求


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