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            探針式輪廓儀

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)Dektak XTL

            品       牌Bruker/布魯克

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時(shí)間:2023-12-27 14:58:31瀏覽次數(shù):372次

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
            價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,電氣
            探針式輪廓儀
            新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。

            探針式輪廓儀

            產(chǎn)品簡介
            產(chǎn)地類別進(jìn)口價(jià)格區(qū)間面議
            應(yīng)用領(lǐng)域電子,綜合

            新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。


            詳情介紹 解決方案

            <strong>探針式輪廓儀</strong>系統(tǒng)Dektak XTL.jpg

            探針式輪廓儀是一種用于化學(xué)、材料科學(xué)、電子與通信技術(shù)、化學(xué)工程領(lǐng)域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度。

               布魯克公司的新型DektakXTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。DektakXTL集成氣體隔振裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運(yùn)行,是當(dāng)今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。它的雙攝像頭設(shè)置使空間感增強(qiáng),其高水平自動(dòng)化可生產(chǎn)量。

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               探針式輪廓儀系統(tǒng)DektakXTL產(chǎn)品特性

               一、Bruker公司的雙攝像頭控制系統(tǒng)

               1.通過點(diǎn)擊實(shí)時(shí)視頻更快鎖定到關(guān)注點(diǎn)

               2.通過選擇實(shí)時(shí)視頻中的兩個(gè)點(diǎn)快速定位樣品(自動(dòng)旋轉(zhuǎn)使連線水平)

               3.通過在實(shí)時(shí)視頻中點(diǎn)擊掃描起始和結(jié)束位置簡化測量設(shè)置(教學(xué))

               二、自動(dòng)化設(shè)置和操作

               1.借助300毫米的自動(dòng)化編碼XY工作臺(tái)以及360度旋轉(zhuǎn)能力,編程控制無限制測量位置。

               2.利用帶圖形識(shí)別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差

               3.將自定義用戶提示以及其它元數(shù)據(jù)編入您的方案中,并存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫內(nèi)

               三、方便的分析和數(shù)據(jù)采集

               1.快速分析儀支持大部分常用分析方法,可輕松實(shí)現(xiàn)分析程序自動(dòng)化

               2.通過臺(tái)階檢測功能將分析集中于復(fù)雜樣品上感興趣的特征

               3.通過賦予每個(gè)測量點(diǎn)名稱并自動(dòng)記錄到數(shù)據(jù)庫來簡化數(shù)據(jù)分析

               4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能

               四、業(yè)界自動(dòng)分析軟件

               新增軟件功能使DektakXTL成為市面上易使用的探針式輪廓儀。系統(tǒng)使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學(xué)輪廓儀*兼容。Vision64軟件可以進(jìn)行樣品任何位置測量、3D繪圖以及借助數(shù)百個(gè)內(nèi)置分析工具實(shí)現(xiàn)的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform軟件來測量曲率半徑等形狀。

               五、探針式檢測技術(shù)

               圖形識(shí)別功能可以盡量減少操作員誤差并測量位置精度。在同一軟件包內(nèi),以直觀流程進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和2D、3D分析。每個(gè)系統(tǒng)都帶有Vision軟件許可證,可在裝有Windows7操作系統(tǒng)的個(gè)人電腦上安裝,用戶可在電腦桌面上創(chuàng)建數(shù)據(jù)分析和報(bào)告。

               DektakXTL擁有超過40年的探針經(jīng)驗(yàn)和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),符合現(xiàn)在和未來的嚴(yán)格的行業(yè)發(fā)展藍(lán)圖。

                     


               應(yīng)用

               一、晶片應(yīng)用:                                             二、大型基板應(yīng)用:

               沉積薄膜(金屬、有機(jī)物)的臺(tái)階高度     印刷電路板(凸起、臺(tái)階高度)

               抗蝕劑(軟膜材料)的臺(tái)階高度                  窗口涂層

               蝕刻速率測定                                                  晶片掩模

               化學(xué)機(jī)械拋光(腐蝕,凹陷,彎曲)          晶片卡盤涂料

               拋光板

               三、玻璃基板及顯示器應(yīng)用:                    四、柔性電子器件薄膜:

               AMOLED                                                         有機(jī)光電探測器

               液晶屏研發(fā)的臺(tái)階步級高度測量                 印于薄膜和玻璃上的有機(jī)薄膜

               觸控面板薄膜厚度測量                                 觸摸屏銅跡線

               太陽能涂層薄膜測量

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