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反射膜厚儀MProbe UVVisSR 返回列表頁

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更新時(shí)間：2023-12-27 18:02:45瀏覽次數(shù)：242次

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產(chǎn)品分類品牌分類

物理特性分析儀器: 測(cè)厚無損熱分析儀粒度儀

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	石油,電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣

反射膜厚儀MProbe UVVisSR
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

詳情介紹

反射膜厚儀MProbe UVVisSR

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

應(yīng)用領(lǐng)域	生物產(chǎn)業(yè),電子

MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

詳情介紹

產(chǎn)品概述
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
測(cè)量范圍: 1 nm -50um
波長(zhǎng)范圍: 200 nm -1000 nm
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測(cè)量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)
界面友好強(qiáng)大: 一鍵式測(cè)量和分析。
實(shí)用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測(cè)量，動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線批量處理。

（MProble NIR薄膜測(cè)厚儀系統(tǒng)示）

案例1，73nm SiN氮化硅薄膜的測(cè)量

使用Tauc-Lorentz模型，測(cè)量SiN薄膜的n和k值