上海富瞻環(huán)保科技有限公司
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO采用了技術(shù)，為各種用戶提供了佳的分析性能和方便的操控性。
· 采用多導(dǎo)毛細管聚焦鏡，照射光斑小，空間分辨率高。
· 渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得的樣品影像，可在“飛行中"進行元素分布分析。
· 通過可選的雙X射線光管和多6個濾光片進行靈活的激發(fā)。
· 使用XFlash®探測器高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
· 基于無標樣分析法準確定量分析塊狀樣品，準確分析多層膜樣品。
· 具有便捷進樣功能的可抽真空的樣品室
行業(yè)應(yīng)用：
1.地球科學(xué)（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。）
2.司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（彈孔射擊殘留物GSR分析等）
3.藝術(shù)與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析，修復(fù)文物)
4.生命科學(xué)（植入材料擴散材料分析，生物體內(nèi)的生物礦化，水凝膠質(zhì)檢，樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）
5.材料科學(xué)（三元梯度薄膜分析，鋰電池正極材料異物分析，水泥鋼材腐蝕檢驗）
6.環(huán)境科學(xué)(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
7.質(zhì)量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
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