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            行業(yè)產(chǎn)品

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            上海祥奉試驗(yàn)儀器設(shè)備廠>>高低溫沖擊試驗(yàn)箱>>兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱>> XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱

            XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱

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            • XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱
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            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號(hào)
            • 品牌 XIAGNFEGN/祥奉
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
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            更新時(shí)間:2021/11/04 09:34:53瀏覽次數(shù):1903

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            產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
            應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
            XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

            詳細(xì)介紹

            一、產(chǎn)品介紹

            XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周?chē)髿鉁囟燃眲∽兓瘲l件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。


            二、XF/WDCJ-100L兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

            型號(hào)

            XF/WDCJ-100L

            XF/WDCJ-225L

            XF/WDCJ-500L

            XF/WDCJ-010L

            工作室尺寸D×W×H

            450×450×500

            600×600×600

            800×800×800

            1000×1000×1000

            外型尺寸D×W×H

            1560×870×1545

            1710×1020×1845

            1910×1220×2265

            2110×1420×2665

            樣品區(qū)尺寸D×W×H

            250×250×250

            400×400×450

            600×600×600

            800×800×750

            功率(KW)A/B/C

            13/15/17

            15/17/18

            18/21/21

            20/24/27

            性能
            指標(biāo)

            溫度范圍

            A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

            溫度波動(dòng)

            高溫室及低溫室均±2℃

            樣品區(qū)溫度波動(dòng)

            ±0.5℃(恒溫時(shí))

            樣品區(qū)承重

            30kg

            30kg

            50kg

            60kg

            溫濕度運(yùn)行控制系統(tǒng)

            控制器

            進(jìn)口LED數(shù)顯(P·I·D +S·S·R)微電腦集成控制器

            精度范圍

            設(shè)定精度:溫度0.1℃,指示精度:溫度0.1℃,解析度:0.1℃

            制冷系統(tǒng)

            進(jìn)口德國(guó)谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/原裝法國(guó)“泰康"/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式

            循環(huán)系統(tǒng)

            耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪

            溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間

            從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S

            溫度恢復(fù)時(shí)間

            ≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān),既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))

            溫度沖擊方法

            垂直兩箱法(兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱


            三、兩廂高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

            GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

            GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

            GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)

            GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

            GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

            GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

            GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)

             


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