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            半導體溫度沖擊老化試驗箱

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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 型號 半導體溫度沖擊試驗
            • 品牌
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 成都市
            在線詢價 收藏產(chǎn)品

            更新時間:2017-05-11 13:50:51瀏覽次數(shù):794

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            產(chǎn)品簡介

            半導體溫度沖擊老化試驗箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。

            詳細介紹

            半導體溫度沖擊老化試驗箱

            簡介:冷熱沖擊試驗機,用來測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在zui短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗機質(zhì)量好,價格優(yōu),免費保養(yǎng),歡迎采購。

            設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性;、

            半導體 溫度沖擊老化試驗箱

            產(chǎn)品用途

            該產(chǎn)品適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、半導體、材料等產(chǎn)品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校,工廠,軍工,研位,等單位.

            機械鈑金結(jié)構(gòu)

            全部功能采用計算機控制,系自主開發(fā)的軟件,有良好的操作界面,使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀,保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態(tài)下,可以臨時更改此程序段的數(shù)值,可以在屏幕上設置時間和參數(shù),使制冷、加熱、提藍傳送切換,按設定值自動進行。

            冷箱、熱箱獨立控制,箱門互相獨立,擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。

            產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

            試驗箱門與循環(huán)風機,提藍傳動等互鎖,保護操作者的安全,一旦打開箱門,循環(huán)風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。

            在箱頂有標準引線孔管,方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線,檢測電纜等類型引線。

            半導體溫度沖擊老化試驗箱

            控制系統(tǒng)

            低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。

            溫度恢復時間小于等于5分鐘。

             

            半導體 溫度沖擊老化試驗箱

            規(guī)范要求:

            a.采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載)
            b.傳感器放置測試區(qū)而非風道口符合實驗有效性
            a.進行兩箱沖擊時測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
            b.可擴充待測品表面溫度控制駐留時間來縮短試驗時間
            c.可直接多項規(guī)范與試驗條件

            *設備特點
            規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
            設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
            高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性;
            工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
            高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui??;
            表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
            高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
            多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
            大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
            環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;

            *可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

            半導體 溫度沖擊老化試驗箱

            型 號

             

             

            TSL-80-A
            TSU-80-W
            TSS-80-W

            TSL-150-A
            TSU-150-W
            TSS-150-W

            TSL-225-W
            TSU-225-W
            TSS-225-W

            TSL-408-W
            TSU-408-W
            TSS-408-W

            標稱內(nèi)容積(升)

            80

            150

            200

            300

            試驗方式

            氣動風門切換2溫室或3溫室方式

            性能

            高溫室

            預熱溫度范圍

            +60~+200℃

            升溫速率※1

            +60→+200℃≤20分鐘

            低溫室

            預冷溫度范圍

            -78-0℃

            降溫速率※1

            +20→-75℃≤80分鐘

            試驗室

            溫度偏差

            ±2℃

            溫度范圍

            TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
            TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
            TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

            溫度恢復時間※2

            5分鐘以內(nèi)

            試樣擱架承載能力

            30kg

            試樣重量

            7.5kg

            10kg

            10kg

            內(nèi)部尺寸(mm)

            W

            500

            600

            750

            850

            H

            400

            500

            500

            600

            D

            400

            500

            600

            800

            外形尺寸(mm)

            W

            1460

            1560

            1710

            1880

            H

            1840

            1940

            1940

            2040

            D

            1500

            1600

            1700

            1900

            ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。

            ※2恢復條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

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