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            首頁(yè)>>深圳市新瑪科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體C-V特性分析儀>>試驗(yàn)系統(tǒng)

            • IOL間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價(jià):面議

              測(cè)試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode(小電流器件)進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗(yàn)。間歇工作壽命試驗(yàn)利用芯片的反復(fù)開(kāi)啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...
              型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:深圳市 對(duì)比
              IOL間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)試驗(yàn)系統(tǒng)HK-IOL-16H碳化硅器件參數(shù)測(cè)試儀IOL間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
              2024/1/29 15:42:292203
            • IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng) 參考價(jià):面議

              IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對(duì)IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗(yàn),通過(guò)控制實(shí)驗(yàn)條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
              型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:深圳市 對(duì)比
              SIC碳化硅器件測(cè)試儀HUSTEC-3000HUSTEC碳化硅器件參數(shù)測(cè)試儀參數(shù)測(cè)試儀
              2024/1/29 15:40:262398

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