自動(dòng)光譜橢偏儀SENDURO 參考價(jià)：面議
自動(dòng)光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動(dòng)掃描則實(shí)現(xiàn)了較高的...
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動(dòng)光譜利用紅外光譜中分子振動(dòng)模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對(duì)不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。...
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。...
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業(yè)環(huán)境中都能快速，符合人體工程學(xué)的安全處理樣品。
布魯克HD9800工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克HD9800工業(yè)光學(xué)顯微鏡HD9800是專門用于硬盤行業(yè)磁頭滑塊測量的*的光學(xué)輪廓儀，用于對(duì)CCT和PTR的高速自動(dòng)測量，監(jiān)控其復(fù)雜的加工工藝是否正常。
布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡ContourSP大面板計(jì)量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計(jì)量專業(yè)知識(shí)，是上一代SP型號(hào)的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板...
布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Contour Elite X 工業(yè)光學(xué)顯微鏡大樣本的Contour Elite X 3D光學(xué)輪廓儀將的測量功能與業(yè)界大視野和高保真彩色或單色成像上的垂直...
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計(jì)量性能的設(shè)計(jì)和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Co...
布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克InSight CAP自動(dòng)原子力顯微鏡在*技術(shù)節(jié)點(diǎn)上，利用多圖案光刻技術(shù)對(duì)CMP提出了納米工藝控制要求，以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新...
布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Dimension Edge PSS原子力顯微鏡具有AutoMET™計(jì)量軟件的布魯克Dimension Edge™PSS原子力顯微...
布魯克Dimension HPI原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Dimension HPI原子力顯微鏡（AFM）系列在為工業(yè)計(jì)量應(yīng)用提供的可用速度和性能方面享有悠久的聲譽(yù)。Dimension HPI和PRO系統(tǒng)是專為大...
布魯克Dimension FastScan原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Dimension FastScan原子力顯微鏡分辨率成像—無論何時(shí)，不論哪次高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化潛力無限—極其靈活的開放式架構(gòu)獲得較全面的...
布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡 高分辨率成像 -無論何時(shí)，不論哪次? 完整的納米尺度定量信息 ? 潛力無限 – 靈活，開放? 超乎想象的簡單
傅立葉紅外光譜儀HTS-XT 參考價(jià)：面議
傅立葉紅外光譜儀HTS-XT常規(guī)傅立葉紅外光譜儀布魯克光譜提供各種可應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室的常規(guī)應(yīng)用分析的傅立葉紅外光譜儀。
布魯克LUMOS傅立葉變換紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克LUMOS傅立葉變換紅外光譜儀*地結(jié)合了高清晰度可見光區(qū)觀察和高質(zhì)量紅外譜圖測量兩大性能，在保證高品質(zhì)顯微研究的同時(shí)，也為用戶提供了極其舒適的操作體驗(yàn)
布魯克ALPHA II緊湊型FTIR光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克ALPHA II緊湊型FTIR光譜儀FTIR光譜儀ALPHA II結(jié)合了出色的質(zhì)量和較小的占地面積，并在用戶便利性方面樹立了*。借助集成的平板電腦和基于觸...
布魯克INVENIO紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克INVENIO紅外光譜儀 INVENIO - 常規(guī)FTIR以及多光譜研究/開發(fā)的日常應(yīng)用FTIR之選，INVENIO 致力于幫助您實(shí)現(xiàn)從日常質(zhì)量控制到高級(jí)...
布魯克TANDEM紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克TANDEM紅外光譜儀是一個(gè)全自動(dòng)的、在線 PAT 工具，允許收集加工數(shù)據(jù)和控制片劑壓縮流程。該系統(tǒng)可提供制藥片劑的物理和化學(xué)信息。
布魯克MATRIX-F紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克MATRIX-F紅外光譜儀布魯克公司屢獲殊榮的 MATRIX 系列傅立葉紅外和傅立葉近紅外過程控制光譜儀，可直接在過程反應(yīng)釜或管道內(nèi)測量，從而更好的理解和...
布魯克MPA II多用途光譜分析儀 參考價(jià)：面議
布魯克MPA II多用途光譜分析儀可定制的工作場所、簡單的測量模式和指導(dǎo)你完成分析方法設(shè)置的向?qū)?，都?OPUS 光譜軟件的標(biāo)準(zhǔn)配置。鼠標(biāo)點(diǎn)擊或按下按鈕就可以啟...
布魯克TANGO傅立葉近紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
布魯克TANGO傅立葉近紅外光譜儀更快速、更簡單、更安全 — 使用 TANGO 提高您的近紅外分析速度。TANGO 可*用戶對(duì)傅立葉變換近紅外光譜儀的要求，適用...
布魯克ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡在一臺(tái)臺(tái)式儀器中結(jié)合了出色的分析性能，便利性和可承受性
布魯克ContourGT-X3 三維光學(xué)顯微鏡 參考價(jià)：面議
布魯克ContourGT-X3 三維光學(xué)顯微鏡為實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過程控制提供了性能的非接觸表面測量。作為十代白光干涉測量技術(shù)創(chuàng)新和設(shè)計(jì)的之作，該計(jì)量系統(tǒng)在業(yè)界大...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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