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            北京恒奧德科技有限公司
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            四探針探頭 訂購指南

            時間:2020/4/8閱讀:881
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            四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
             

            四探針探頭   探頭             型號:GSZ-HP-501


             

             

             

             

             

            四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

             

            ◆ 特性及規(guī)格
             

            1

             特制之手握式探筆

            2

             球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷

            3

             探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞

            4

             探頭使用壽命長

            5

             探針間距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

            型號
            (Model)

            曲率半徑
            (Radius)

            壓力
            (loads)

            探針間距
            (spacing)

            探針排列
            (Arrangement)

            GSZ-HP-501

            0.5mm

            100g

            3.8mm

            直線

             

             

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