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            北京華測試驗(yàn)儀器有限公司>>功能材料測試儀器>>電學(xué)綜合測試系統(tǒng)>> HC華測國產(chǎn)功能材料綜合測試系統(tǒng)鐵電儀定制

            華測國產(chǎn)功能材料綜合測試系統(tǒng)鐵電儀定制

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            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號 HC
            • 品牌 HUACE/北京華測
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
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            更新時間:2024/12/04 10:39:39瀏覽次數(shù):1571

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            產(chǎn)品簡介

            產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,航天,電氣,綜合
            華測國產(chǎn)功能材料綜合測試系統(tǒng)鐵電儀定制,國產(chǎn)/定制具有多種測試功能,包括鐵電參數(shù)測試、壓電參數(shù)測試、熱釋電測試以及絕緣電阻測試等。具體來說,它可以完成功能材料的鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試,并具備動態(tài)電滯回線測試、靜態(tài)電滯回線測試、脈沖測試、疲勞測試、保持力測試、印跡測試、漏電流測試以及變溫測試等功能。

            詳細(xì)介紹


            HC功能材料綜合測試系統(tǒng)


            HC功能材料綜合測試系統(tǒng)-國產(chǎn)/定制產(chǎn)品簡介

            HC功能材料綜合測試系統(tǒng)-國產(chǎn)/定制可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試,以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容性做了大量的接口。無論在軟件與硬件方面,使本套儀器在未來更易于擴(kuò)展。更加節(jié)省改造時間與硬件成本。


            強(qiáng)大的測試功能

            鐵電參數(shù)測試功能

            Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;

            Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;

            PUND 脈沖測試;

            Fatigue 疲勞測試;

            Retention保持力;

            Imprint印跡;

            Leakage current漏電流測試;

            Thermo Measurement 變溫測試功能

            壓電參數(shù)測試功能

            可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試,也可通過高壓放大器與位移傳感器(如激光干涉儀)動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

            熱釋電測試功能

            主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線。

            薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;

            塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃

            介電溫譜測試功能

            用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試。

            熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

            用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

            絕緣電阻測試功能

            精zhun度的電壓輸出與電流測量,保障測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

            高溫四探針測試功能

            符合功能材料導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

            塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

            適用于半導(dǎo)體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,高阻選件高至10MΩ。

            電卡效應(yīng)測試功能

            還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

            溫度范圍:-50℃到200℃、熱流時間范圍:1s-1000s,

            zui大電壓可達(dá)10kV,

            波形:用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預(yù)定義波形。

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