TT220覆層測厚儀功能特點：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

TT220覆層測厚儀干磨擦部分保養(yǎng)步驟：先用干細(xì)棉布或擦拭紙擦拭磨擦表面，以擦拭其灰塵或油污等。也可使用吹氣壺，將灰塵吹掉。該展臺是上海魅宇儀器設(shè)備有限公司旗下的產(chǎn)品導(dǎo)購，是國內(nèi)檢測儀器行業(yè)優(yōu)選廠家，自上線以來，得到眾多消費者喜愛，客戶量穩(wěn)步增加，上海魅宇儀器網(wǎng)功能完善。所有產(chǎn)品提供三包服務(wù)。推薦產(chǎn)品水泥凈漿攪拌機(jī)

基本原理：

本儀器采用了磁性測厚法，可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。  基本工作原理是：當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆層的厚度。

基本配置：

■TT220主機(jī) 一臺

■標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒

■標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊

■充電器 1個

技術(shù)參數(shù)：

■型號：TT220

■測頭類型：F。

■測量原理：磁感應(yīng)。

■測量范圍：0-1250um。

■低限分辨力：1m（10um以下為0.1um）。

■探頭連接方式：一體化。

■示值誤差：一點校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。

■兩點校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。

■測量條件：小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。

■基體小面積的直徑（mm）：ф7。

■小臨界厚度（mm）：0.5。

■溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。

■統(tǒng)計功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、

標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。

■工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。

■測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。

■存儲能力：15 個測量值。

■打印/連接計算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。

■關(guān)機(jī)方式：自動。

■電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。

■外形尺寸：150×55.5×23mm。

■重量：150g。

■基本配置：主機(jī)。

■標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。

■鐵基體。

■充電器。

■可選附件。

■TA230打印機(jī)。

主要功能：

■可進(jìn)行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：

■具有兩種測量方式地：連續(xù)測量方式（continue）和單次測量方式（single）;

■具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；

■具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；

■設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；

■具有打印功能，或打印測量值、統(tǒng)計值；

■具有欠壓指示功能；

■操作過程有蜂鳴聲提示；

■具有錯誤提示功能；

■具有自動關(guān)機(jī)功能。

主要優(yōu)點：

■測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；

■精度高 ：本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上為數(shù)不多能達(dá)到*的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；

■穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；

■功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

用途簡介：
該儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95《磁阻法測厚儀》。