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詳細摘要： 日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創(chuàng)新永無止境!ZA3700系列是一款新型石墨爐原子吸收分光光度計，在確?；拘阅埽ɡ纾焊呔群透哽`敏度）的前提下，采用其他原子...

詳細摘要： 自1962年日立開發(fā)出第一代KLA型氨基酸分析儀以來，經過56年的時間，歷經KLA型、KLA-5型、835型、L-8500型號、L-8800型號、L-8900六...

詳細摘要： Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀。扣扳機后一秒即會顯示結果。且產品使用激光誘導擊穿光譜技術 （LIBS），您無需擔心X射線的影響。無論您的業(yè)務...

詳細摘要： 我們的DSC（差示掃描量熱儀）被廣泛用于材料表征。 例如熔點，玻璃化轉變，結晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物，制藥，化學，石油和天然氣，食品和金屬等行業(yè)的...

詳細摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結構，消除了受加熱爐溫度變化影響而導致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠超日立原有產品。在加熱爐內未放置試樣...

詳細摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化...

詳細摘要： XRF 分析（X射線熒光）與高度靈活和強大的能量色散X射線熒光 （EDXRF） 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000，在各種應用中保證質量...

詳細摘要： 手持式X光熒光分析儀（HHXRF）的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化...

詳細摘要： 概要：對應環(huán)境限制物質管理、可快速且簡單測量有害物質的X射線熒光分析儀。

詳細摘要： 微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法，提供...

詳細摘要： 束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據?；赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法，提供易...

詳細摘要： FT160配置部件，可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束，從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳...

詳細摘要： 精工是水平雙臂式TG/DTA技術的，EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價比贏得了包括清華大學、北京大學、中科院、索尼、普利斯通等國內外眾多用戶的青睞...

詳細摘要： 日立高新針對RoHS 2.0指令中的1 0 種限制使用物質的分析解決方案。

詳細摘要： 概要：傳統(tǒng)的TMA相比，靈敏度提高了2倍。因為是沒有形狀制約的全膨脹方式，無論是薄膜或碎片樣品都可以測定。另外，只須更換探針就可以完成壓縮、針入、拉伸測量模式。...

詳細摘要： New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結構，消除了受加熱爐溫度變化影響而導致的微小重量誤差，讓基線穩(wěn)定性水平遠超日立原有產品。在加熱爐內未放置試樣...

詳細摘要： EA8000是，與X射線、CT、X光照相同原理通過X射線透射圖像捕捉樣品中的金屬異物，再通過熒光X射線分析使元素清晰化的異物分析裝置。所謂的熒光X射線分析，是指...

詳細摘要： 通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，可以對微小異物進行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復合材料制品的微小特定部位實施定點測量。

詳細摘要： 「EA1200VX」沿用了新精工電子納米科技有限公司自行開發(fā)的高計數率（能檢測大量X射線的能力）檢測器「Vortex」，具有更高的靈敏度和分辨率。適用于RoHS...

詳細摘要： NexION 1000G等離子體質譜儀采用業(yè)界三組四極桿組成的串級電感耦合等離子體質譜平臺，確保有效去除質譜和非質譜干擾的同時，保證儀器的簡單易用性和異乎尋常的...