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電鍍化學(xué)鎳，鎳層的檢測是天瑞儀器價格優(yōu)的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)及時。

天瑞儀器生產(chǎn)的電鍍化學(xué)鎳的厚度檢測（關(guān)鍵部件元是進(jìn)口的）已通過了江蘇省科技廳的驗(yàn)收，目前已累計(jì)銷售貳萬多臺。華為，三星，海爾，美菱等企業(yè)先后組織人員到我司考察后...

臺式X-RAY測厚儀是天瑞儀器銷量好的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)及時。天瑞儀器Thick800A主要用于檢...

Thick800型X熒光膜厚測量儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測定。

X-ray膜厚儀是天瑞儀器結(jié)合20多年的X熒光研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的，性價比優(yōu)的金屬電鍍層厚度檢測儀...

電鍍層膜厚儀THICK800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動平臺。是款功能強(qiáng)大的...

Thick 8000自動X射線熒光鍍層厚度分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、...

全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP3200系列不負(fù)眾望,數(shù)年磨一劍,終獲蛻變。簡潔實(shí)用的垂直火炬雙向觀測,一鍵徑向軸向絲滑切換;全新的燃燒室風(fēng)道設(shè)計(jì),配合...

Cube100S真空能量色散X熒光光譜儀系列可廣泛應(yīng)用于：水泥、鋼鐵冶煉、礦產(chǎn)開發(fā)冶煉、耐火材料、粉末冶金、石油勘探、錄井分析、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食...

Cube 100S能量色散X熒光光譜儀采用能量色散型X射線熒光分析技術(shù)，是專為海事等相關(guān)部門對各種燃料油中含硫量進(jìn)行現(xiàn)場快速分析測量而設(shè)計(jì)的便攜、易于使用的分析...

能量色散X熒光光譜儀?泛應(yīng)?于礦?、環(huán)保、冶?、有?、鋼鐵、地質(zhì)、煤炭、玻璃、?油、化?、耐?材料、機(jī)械加?、能源焦化等?業(yè)。

EDX3300S X熒光測硫儀采用高通量全聚焦雙曲面彎晶技術(shù)，將X射線管靶材特征譜單色化聚焦入射樣品，選擇性激發(fā)樣品中的輕元素，降低背景干擾，提升峰背比，降低檢...

便攜式能量色散X熒光光譜儀Cube100SPLUS采用X射線熒光分析技術(shù)，針對原油各種燃料油中含硫量進(jìn)行現(xiàn)場快速分析測量而設(shè)計(jì)的便攜、易于使用的分析儀器。

秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，X熒光元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發(fā)展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井...

石油化工 能量色散X熒光光譜儀軟件配套天瑞新研發(fā)成果XRF成份分析軟件4.0版本和RoHS5.0版本全智能版本軟件,實(shí)現(xiàn)液體、固體一鍵測試功能,強(qiáng)大的智能算法可...

Gem UV-100 寶玉石光譜檢測儀基于光譜測量原理，通過不同寶玉石材料在紫外-可見-近紅外波段的光譜吸收特征，對寶玉石種屬、成因、及優(yōu)化處理特征進(jìn)行快速、無...

Raman Dual-100 雙波長共焦拉曼光譜儀是一款基于拉曼光譜原理，采用雙波長激光（532nm/785nm）共焦技術(shù)設(shè)計(jì)的多功能快速物質(zhì)識別儀。

鉆石快速鑒定儀用途：基于光譜測量原理，有效針對天然鉆石（Ia型，無色-淺黃色系列）進(jìn)行快速篩查，可將合成鉆石（CVD、HTHP）和其他鉆石仿制品區(qū)分出來；儀器小...

AAS系列珠寶首飾火焰石墨爐一體式原子吸收是由天瑞儀器公司集多年光譜研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，歷時數(shù)年自主研發(fā)，制造，獨(dú)立銷售的高性能，高可靠性的光譜分析儀器，具備火焰、石墨爐...

能量色散X熒光光譜儀符合國標(biāo)GB/T 18043-2013對儀器分辨率的要求，EDX 3000采?Si-pin探測器， 準(zhǔn)確?誤地分析??， 鉑?和K?飾品中?...