3380-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 85 MHz 測(cè)試頻率
• 512 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
• 平行測(cè)試可達(dá) 512 devices
• 16/32 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能卡 選配 (16 ~24 bits)
• SCAN 測(cè)試功能 選配 (1G/Board)
• ALPG 測(cè)試 選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020,ITS9K)
• 人性化 Window 7操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 程式語(yǔ)言同3360P & 3360