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            目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>蔡司工業(yè)CT>>X射線顯微鏡>> 蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡

            蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡
            • 蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 ZEISS/蔡司
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 北京市
            屬性

            產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:綜合

            >

            更新時間:2024-09-23 14:55:13瀏覽次數(shù):1032評價

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            蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡將納米級三維 X 射線的成像性能提升 10 倍。這款創(chuàng)新的 X 射線顯微鏡(XRM) 能在 5.4 keV 的低能量下工作,為中低原子序數(shù)樣品及科學(xué)與工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的材料成像提供更出色的反差和圖像質(zhì)量。

             蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡總體描述

             蔡司 Xradia 810 Ultra顯微鏡 將納米級三維 X 射線的成像性能提升 10 倍。這款創(chuàng)新的 X 射線顯微鏡(XRM) 能在 5.4 keV 的低能量下工作,為中低原子序數(shù)樣品及科學(xué)與工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的材料成像提供更出色的反差和圖像質(zhì)量。
            蔡司 Xradia 810 Ultra

            技術(shù)參數(shù):

            在實(shí)驗(yàn)室完成 50 納米較高分辨率三維 X 射線成像
            無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像
            利用吸收襯度和相位襯度對不同材料進(jìn)行成像,如中低原子序數(shù)材料、碳酸鹽巖、頁巖、組織、生物力學(xué)材料,在納米級尺度上將速度提升了 10 倍
            即便是無權(quán)限使用同步輻射裝置的研究人員也能在實(shí)驗(yàn)室中獲得類似于同步輻射的成像結(jié)果,或者讓同步輻射時間變得更有效率
            更快的圖像采集速度大大提高了工作效率,讓更多研究人員使用中心實(shí)驗(yàn)室
            視場可在 16 至 65 µm 的范圍內(nèi)調(diào)整,更好的滿足成像需求
            在原位設(shè)備中樣品的成像保持高分辨率
            用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能
            在實(shí)驗(yàn)室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測試你計劃的同步實(shí)驗(yàn),讓有限的同步輻射時間更加有效率
            搭配 Scout-and-Scan 控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面,尤其適合研究人員水平各不相同的中心實(shí)驗(yàn)室
             

            特點(diǎn):

            更高分辨率、更高襯度、更快速度
            蔡司能在實(shí)驗(yàn)室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術(shù)外,蔡司 Xradia 810 Ultra 還運(yùn)用了改裝自同步加速器的*光學(xué)器件,用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關(guān)鍵的無損分析步驟,從而讓這款創(chuàng)新型儀器實(shí)現(xiàn)了研究領(lǐng)域的突破。
            Xradia 810 Ultra 能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進(jìn)行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術(shù)來優(yōu)化大量材料的成像,如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在*的同步加速器實(shí)驗(yàn)室內(nèi)引入納米級 X 射線成像技術(shù),蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學(xué)研究的前列。
            通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數(shù)量級,拓展了 XRM 在科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。對于中心顯微實(shí)驗(yàn)室而言,更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內(nèi)綜合利用儀器,從而利于擴(kuò)大 XRM 的用戶群。同樣,您也可以快速地重復(fù)執(zhí)行內(nèi)部結(jié)構(gòu)的四維和原位研究,使這些技術(shù)的應(yīng)用面更廣。在諸如數(shù)字巖石物理技術(shù)等有針對性的應(yīng)用中,Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性,在數(shù)小時內(nèi)提供測量數(shù)據(jù)來表征關(guān)鍵性參數(shù),如孔隙度。


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