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            目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>蔡司工業(yè)CT>>X射線顯微鏡>> 蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡

            蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡
            • 蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 ZEISS/蔡司
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 北京市
            屬性

            產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:綜合

            >

            更新時間:2024-09-23 14:57:32瀏覽次數(shù):1122評價

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            創(chuàng)新的 蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡,將高通量實(shí)驗(yàn)室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學(xué)器件整合至一套獨(dú)立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中,從而填了 SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng) microCT 技術(shù)之間的空白。

            蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡總體描述

            創(chuàng)新的蔡司 Xradia 800 Ultra顯微鏡,將高通量實(shí)驗(yàn)室 X 射線源與專業(yè)的X 射線光學(xué)器件整合至一套獨(dú)立的超高分辨率 CT 掃描 X 射線顯微鏡中,從而填了 SEM、TEM 或 AFM 等現(xiàn)有高分辨率成像技術(shù)與光學(xué)顯微鏡技術(shù)或傳統(tǒng) microCT 技術(shù)之間的空白。


            技術(shù)參數(shù):

            蔡司 Xradia 800 Ultra

            無損三維 X 射線成像允許在直接微觀結(jié)構(gòu)觀察下對同一樣品進(jìn)行重復(fù)成像

            在原位設(shè)備中樣品成像保持低至 50nm 的高分辨率
            用于斷層掃描重構(gòu)的圖像自動調(diào)整功能
            視野可在 15 至 60 μm 的范圍內(nèi)進(jìn)行切換
            吸收襯度和 Zernike 相位襯度成像模式
            在實(shí)驗(yàn)室中開發(fā)、準(zhǔn)備、測試你計(jì)劃的同步實(shí)驗(yàn),讓有限的同步輻射時間更加有效率
            搭配 Scout-and-Scan 控制系統(tǒng)和基于工作流程的用戶界面,尤其適合研究人員水平各不相同的中心實(shí)驗(yàn)室


            特點(diǎn):

            Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm,使微觀結(jié)構(gòu)和進(jìn)程可視化,這些是傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室 X 射線技術(shù)不能實(shí)現(xiàn)的。在 X 射線能量為8 KeV下運(yùn)行穿透力和襯度適合各種材料,使您可以觀察自然狀態(tài)下的結(jié)構(gòu)和材料。
            集成相位襯度技術(shù)的 Xradia 800 Ultra 運(yùn)用 Zernike 方法在吸收襯度低時可增強(qiáng)晶界和材料交界處的可見度,使未染色的超結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)可視化。
            蔡司Xradia 800 Ultra 采用類似橫切法的無損技術(shù),提供可信賴的內(nèi)部 3D 信息。大工作距離和空氣樣品環(huán)境使您可以輕松的進(jìn)行原位研究。


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