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            北京長(zhǎng)恒榮創(chuàng)科技有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第6年

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            徠卡DM750M金相顯微鏡觀察金相試樣晶粒度

            參   考   價(jià): 999

            訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)

            品       牌Leica/徠卡

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地北京市

            更新時(shí)間:2025-03-13 17:02:48瀏覽次數(shù):33次

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥,綜合
            徠卡DM750M金相顯微鏡觀察金相試樣晶粒度需要遵循一系列嚴(yán)格的步驟和注意事項(xiàng)。通過(guò)正確的操作方法和優(yōu)良的設(shè)備性能,可以獲得準(zhǔn)確、可靠的晶粒度評(píng)級(jí)和測(cè)量結(jié)果。

            徠卡DM750M金相顯微鏡觀察金相試樣晶粒度


            徠卡DM750M金相顯微鏡觀察金相試樣晶粒度


            一、徠卡DM750M倒置金相顯微鏡試樣制備

            切割:將金相樣品進(jìn)行切割,選取合適大小的部分。確保切割面平整,以便于后續(xù)操作。

            鑲嵌與固定:通過(guò)鑲嵌將樣品固定在夾具中,使樣品在觀察過(guò)程中保持穩(wěn)定。

            研磨與拋光:依次使用不同目數(shù)的砂紙對(duì)樣品進(jìn)行研磨,從粗砂紙到細(xì)砂紙,使樣品表面逐漸平整光滑。最后用拋光布和拋光液對(duì)樣品進(jìn)行拋光,直至表面呈現(xiàn)鏡面效果。這一步是為了消除樣品表面的劃痕和缺陷,提高觀察效果。

            侵蝕:用合適的侵蝕劑對(duì)拋光后的樣品進(jìn)行侵蝕,使晶粒邊界清晰顯示出來(lái)。侵蝕時(shí)間和侵蝕劑的濃度需根據(jù)樣品的材質(zhì)和晶粒度進(jìn)行調(diào)整。


            二、徠卡DM750M倒置金相顯微鏡顯微鏡設(shè)置與觀察

            清潔顯微鏡:在觀察前,用干凈的擦鏡紙輕輕擦拭物鏡、目鏡等光學(xué)部件,以及載物臺(tái),確保無(wú)雜物影響樣品放置和觀察。

            開(kāi)啟設(shè)備:打開(kāi)徠卡DM750M倒置金相顯微鏡的電源開(kāi)關(guān),讓光源預(yù)熱至穩(wěn)定。若顯微鏡連接了電腦,也需打開(kāi)電腦及相關(guān)圖像采集軟件。

            放置樣品:將制備好的金相試樣小心放置在載物臺(tái)上,使用載物臺(tái)夾具或壓片固定好樣品,避免樣品在觀察過(guò)程中移動(dòng)。

            選擇物鏡:根據(jù)觀察需求和放大倍數(shù)要求,選擇合適的物鏡。一般先使用低倍物鏡(如10倍)進(jìn)行初步觀察,找到樣品的大致位置和整體形態(tài)。再根據(jù)需要切換到高倍物鏡(如40倍、100倍)觀察晶粒細(xì)節(jié)。

            調(diào)節(jié)光路:調(diào)整孔徑光闌和視場(chǎng)光闌的大小,以控制光線的強(qiáng)度和照射范圍,使樣品獲得優(yōu)良的照明效果。

            調(diào)焦操作:通過(guò)粗調(diào)焦旋鈕和微調(diào)焦旋鈕進(jìn)行調(diào)焦,使樣品圖像清晰。在調(diào)焦過(guò)程中,要注意避免物鏡與樣品發(fā)生碰撞。

            觀察與調(diào)整:通過(guò)目鏡或圖像采集軟件仔細(xì)觀察樣品的晶粒形態(tài)和結(jié)構(gòu)特征??烧{(diào)整光源的亮度、對(duì)比度等參數(shù),以優(yōu)化觀察效果。


            三、徠卡DM750M倒置金相顯微鏡晶粒度評(píng)級(jí)與測(cè)量

            對(duì)比評(píng)級(jí)法:將顯微鏡中觀察到的晶粒形貌與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖進(jìn)行對(duì)比。標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖一般根據(jù)相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定,代表了不同晶粒度級(jí)別的晶粒形態(tài)。在多個(gè)不同的視場(chǎng)中進(jìn)行觀察和對(duì)比,以提高評(píng)級(jí)的準(zhǔn)確性。

            測(cè)量晶粒面積法:在顯微鏡下隨機(jī)選擇多個(gè)視場(chǎng),使用圖像分析軟件(如ImageJ等)測(cè)量每個(gè)視場(chǎng)中一定數(shù)量的晶粒面積。也可通過(guò)目鏡中的測(cè)微尺手動(dòng)測(cè)量晶粒的直徑等尺寸,再計(jì)算出晶粒面積。將測(cè)量得到的所有晶粒面積相加,除以晶粒數(shù)量,得到平均晶粒面積。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中平均晶粒面積與晶粒度級(jí)別之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系表或計(jì)算公式,確定晶粒度級(jí)別。

            統(tǒng)計(jì)交點(diǎn)法:在顯微鏡的目鏡中或通過(guò)圖像分析軟件,在樣品圖像上放置一條已知長(zhǎng)度的測(cè)試線(可以是直線或圓形)。沿著測(cè)試線仔細(xì)統(tǒng)計(jì)與晶粒邊界的交點(diǎn)數(shù)量。為保證結(jié)果的準(zhǔn)確性,可在多個(gè)視場(chǎng)中進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。根據(jù)交點(diǎn)數(shù)量、測(cè)試線長(zhǎng)度以及晶粒度級(jí)別之間的關(guān)系公式進(jìn)行計(jì)算,從而確定晶粒度級(jí)別。


            四、徠卡DM750M倒置金相顯微鏡注意事項(xiàng)

            在觀察過(guò)程中,要保持顯微鏡和樣品的清潔,避免灰塵和污漬影響觀察效果。

            調(diào)節(jié)焦距和光路時(shí),要耐心細(xì)致,確保圖像清晰、對(duì)比度合適。

            在進(jìn)行晶粒度評(píng)級(jí)和測(cè)量時(shí),要遵循相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),確保結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。


            使用徠卡DM750M金相顯微鏡觀察金相試樣晶粒度需要遵循一系列嚴(yán)格的步驟和注意事項(xiàng)。通過(guò)正確的操作方法和優(yōu)良的設(shè)備性能,可以獲得準(zhǔn)確、可靠的晶粒度評(píng)級(jí)和測(cè)量結(jié)果。


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