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            PHI nanoTOF 3-飛行時間質(zhì)譜儀
            • PHI nanoTOF 3-飛行時間質(zhì)譜儀

            貨物所在地:北京北京市

            更新時間:2023-12-31 21:00:06

            瀏覽次數(shù):429

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            nanoTOF 3是PHI最新一代的TOF-SIMS,擁有全新外觀、緊湊設(shè)計,以及更強性能。
            關(guān)鍵技術(shù)
            • 實現(xiàn)高精度測量的一次離子槍。

            • 三重離子束聚焦質(zhì)量分析器,復(fù)雜形貌樣品的高精度分析。

            • TOF-SIMS自動多樣品測試。

            • *的離子束技術(shù)。

            • 通過平行成像MS/MS進行分子結(jié)構(gòu)分析。

            • 可靠的遠程訪問功能,即使在遠離設(shè)備的情況下也能進行“測量"和“診斷"。

            • 多樣化配置。


            實現(xiàn)高精度測量的一次離子槍

            先進的離子束技術(shù),實現(xiàn)高空間分辨率

            PHI nanoTOF3 能夠提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的TOF-SIMS分 析:在高質(zhì)量分辨模式下,其空間分辨率優(yōu)于500 nm;在高空間分 辨模式下,其空間分辨模式優(yōu)于50 nm。通過結(jié)合高強度離子源、 高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器,可以實現(xiàn)低噪聲、高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測量。

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            三重離子束聚焦質(zhì)量分析器(TRIFT),復(fù)雜形貌樣品的高精度分析

            三重離子束聚焦質(zhì)量分析器,適用于寬帶通能量、寬立體接受角度、各種形貌樣品分析

            主離子束激發(fā)的二次離子會以不同角度和能量從樣品表面飛出,特別是對于有高度差異和形貌不規(guī)則的樣品,即使相同的二次離子在分析器中會存在飛行時間上的差異,因此導(dǎo)致質(zhì)量分辨率變差,并對譜峰形狀和背景產(chǎn)生影響。

            TRIFT質(zhì)量分析器可以同時對二次離子發(fā)射角度和能量進行校正,保證相同二次離子的飛行時間一致,所以TRIFT兼顧了高質(zhì)量分辨率和高檢測靈敏度優(yōu)勢,對于不平整樣品的成像可以減少陰影效應(yīng)

            TOF-SIMS自動多樣品測試

            Queue Editor實現(xiàn)多樣品自動測試

            您可以輕松創(chuàng)建和編輯包括質(zhì)譜分析、成像分析和深度剖析在內(nèi)的所有測試方案。測試方案中除了測試條件外,還包括測試位置的信息。在您創(chuàng)建測試序列后,程序可根據(jù)測試方案自動進行多樣品多點分析。

            全自動樣品傳送系統(tǒng)

            PHI nanoTOF3 配置了在XPS的Q系列上表現(xiàn)優(yōu)異的全自動樣品傳送系統(tǒng):最大樣品尺寸可達100 mmx100 mm,而且分析室標(biāo)配內(nèi)置樣品托停放裝置;結(jié)合分析序列編輯器(Queue Editor), 可以實現(xiàn)對大量樣品的全自動連續(xù)測試。

            *的離子束技術(shù)

            采用新開發(fā)的脈沖氬離子槍,獲得專.利的自動荷電雙束中和技術(shù)

            TOF-SIMS測試的大部分樣品為絕緣樣品,而絕緣樣品表面通常有荷電效應(yīng)。PHI nanoTOF3 采用自動荷電雙束中和技術(shù),通過同時發(fā)射低能量電子束和低能量氬離子束,可實現(xiàn)對任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動荷電中和,無需額外的人為操作。

            標(biāo)配離子槍新增FIB(Focused Ion Beam)功能

            在PHI nanoTOF3 中,液態(tài)金屬離子槍增加了FIB處理新功能,

            可以使用單個離子槍進行橫截面處理和橫截面TOF-SIMS分析。

            通過操作計算機,可以快速輕松地完成從FIB處理到TOF-SIMS

            分析的全過程。此外,也具備冷卻條件下FIB加工能力。


            通過平行成像MS/MS進行分子結(jié)構(gòu)分析

            MS/MS平行成像同時采集MS1/MS2數(shù)據(jù)(專.利

            在TOF-SIMS測試中,MS1質(zhì)量分析分析器接收從樣品表面產(chǎn)生的所有二次離子碎片,對于質(zhì)量數(shù)接近的大分子離子,MS1譜圖難以區(qū)分。通過安裝串聯(lián)質(zhì)譜MS2,對于特定離子進行碰撞誘導(dǎo)解離生產(chǎn)特征離子碎片,MS2譜圖可以實現(xiàn)對分子結(jié)構(gòu)的進一步鑒定。

            PHI nanoTOF3 具備串聯(lián)質(zhì)譜MS/MS平行成像功能,可以同時 獲取分析區(qū)域的MS1和MS2數(shù)據(jù),為分子結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析提供了 強有力的工具。

            可靠的遠程訪問功能,即使在遠離設(shè)備的情況下也能進行“測量"和“診斷"

            遠程訪問實現(xiàn)對儀器的遠程控制

            PHI nanoTOF3 允許通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)訪問儀器。只需將樣品 臺放入進樣室,就可以對進樣、換樣、測試和分析等所有操作進 行遠程控制。我們的專業(yè)人員可以對儀器進行遠程診斷*。

            *如需遠程診斷,請聯(lián)系我們的客戶服務(wù)人員。

            多樣化的配置

            • 串聯(lián)質(zhì)譜

            • 氬團簇離子源

            • 氬/氧氣離子源

            • 銫離子源

            • 碳60離子源

            • 樣品臺高/低溫模組

            • 真空傳輸管

            • 惰性氣氛手套箱

            • 觀察曲面樣品專用樣品托

            • 通氧模組

            • 聚焦離子束

            • 聚焦離子束軟件

            • 離線數(shù)據(jù)處理軟件

            • 靜態(tài)質(zhì)譜圖庫



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