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            • 動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 參考價:面議

              動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(D-SIMS)是使用一次離子束(通常是Cs源)轟擊樣品表面,而產(chǎn)生二次離子,然后用質(zhì)譜分析儀分析二次離子的質(zhì)荷比(m/q),從而得知元素在樣...
              型號: PHI ADEPT... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:北京市 對比
              D-SIMS二次離子表面分析PHI材料
              2022/3/7 17:24:342344
            • 掃描俄歇納米探針 參考價:面議

              PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計*的高性能的俄歇電子能譜(AES)儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。作...
              型號: PHI 710 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:北京市 對比
              表面分析俄歇AESPHI
              2022/3/7 11:11:44905

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