孔、面銅測厚儀 CMI760 參考價(jià)：面議
CMI760是CMI700系列專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)；采用微電阻和電渦流方式測量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴(kuò)展性和*統(tǒng)...
MAXXI鍍層測厚儀 參考價(jià)：面議
MAXXI鍍層測厚儀具有，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準(zhǔn)、測量時(shí)間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本。
鍍層測厚儀 COMPACT Eco系列 參考價(jià)：面議
鍍層測厚儀COMPACT系列，廣泛應(yīng)用于PCB、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析及鍍液分析；...
SEM 掃描電鏡 鎢燈絲 參考價(jià)：面議
日本電子 JEOL 掃描電鏡 SEM 鎢燈絲
SRP-T1 面銅探頭: 便攜式測厚儀CMI165。 參考價(jià)：面議
SRP-T1 面銅探頭: 便攜式測厚儀CMI165。
膜厚測試儀 膜厚儀 測厚儀 鍍層測厚儀 參考價(jià)：面議
鍍層測厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀，廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶...
日本電子 JEOL SEM 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEOL JSM-6010 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 JSM-6010系列InTouchScope觸控式電子顯微鏡JSM-6010LA / JSM-6010LV...
自動(dòng)電位滴定儀 參考價(jià)：面議
Metrohm全新一代自動(dòng)電位滴定儀848，性價(jià)比*。其配置與性能遠(yuǎn)超人們對同一價(jià)位滴定儀的期望：大屏幕實(shí)時(shí)顯示滴定曲線，帶芯片的智能交換單元，高分辨率測量輸入...
島津氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 參考價(jià)：面議
島津氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀配備ASSP功能的高速掃描技術(shù)-快速分析快至10,000amu/sec的掃描速度*快速GCMS分析的要求。對于成分復(fù)雜的諸如香精香料、石油...
ROHS檢測儀 參考價(jià)：100000
ROHS檢測儀配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目...
供應(yīng)日本精工X射線管 參考價(jià)：41000
日本精工SEA1000AXRF射線管品牌：瓦里安Varian型號：VF-50J
RHESCA 力世科 可焊性測試儀 沾錫天平 參考價(jià)：面議
可焊性測試儀5200T，采用高精度天平，對各種焊料(有鉛焊錫、無鉛焊錫、焊膏等)的潤濕性及各種電子器件對焊料的附著性進(jìn)行精確的測定和評價(jià)。
JEOL 日本電子 掃描電子顯微鏡 SEM-EDX 參考價(jià)：面議
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操...
Tektronix 泰克 特性阻抗測試儀 PCB 參考價(jià)：面議
泰克DSA8300阻抗測試儀，滿足PCB，F(xiàn)PC，cable等阻抗測試；同時(shí)，可以進(jìn)行S參數(shù)測試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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