超聲波相控陣探傷儀是一種高級的無損檢測設(shè)備，用于檢測材料內(nèi)部的缺陷、裂紋或其他不可見的問題。它利用超聲波技術(shù)，通過發(fā)射和接收多個超聲波束，并對其進行精確控制和聚焦，以形成掃描區(qū)域內(nèi)的詳細(xì)圖像。

　　相控陣探傷儀由多個傳感器組成，每個傳感器都可以獨立發(fā)射和接收超聲波信號。這些傳感器的位置可以根據(jù)需要進行調(diào)整，從而實現(xiàn)對特定區(qū)域的蓋。當(dāng)超聲波束穿過被檢測材料時，它們會與材料內(nèi)部的缺陷或界面交互，并返回到傳感器進行接收。

　　超聲波相控陣探傷儀Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了新的研制的OmniScan®SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作十分方便，性價比高。

　　OmniScan SX觸摸屏配有全屏模式選項，更為清晰，用戶僅需在觸摸屏上進行簡單操作，便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進行菜單選擇，縮放，閘門調(diào)節(jié)，光標(biāo)移動以及文本和數(shù)字的輸入。以上這些特性，加上其它附加的集成功能，包括淺顯易懂的設(shè)置和校準(zhǔn)向?qū)?，迅捷的S掃描和A掃描顯示更新率，和快速的脈沖重復(fù)頻率(PRF)，使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。

　　OmniScan SX能與Olympus數(shù)量龐大的掃查器、探頭和附件產(chǎn)品，及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和軟件產(chǎn)品的完整結(jié)合，使檢測流程從設(shè)計、設(shè)置到采集、分析變得精簡有效。

　　新款OmniScan軟件增強了焊縫和腐蝕檢測應(yīng)用方面的功用和性能。

　　為了達(dá)到持續(xù)完善的目標(biāo)，軟件的界面得到簡化，反應(yīng)時間得到優(yōu)化，從而可使用戶盡可能體驗到好的檢測操作過程。

　　新添功能如下：

　　導(dǎo)出C掃描

　　帶有組融合功能的新型端視圖

　　交錯功能

　　分析模式下的衰減增益

　　滾動布局，方便了判讀過程

　　提供更多交互式菜單，提高了訪問能力

　　得到了優(yōu)化的主菜單和向?qū)?/span>

　　機載復(fù)合扇掃功能

　　用于縱向焊縫檢測的曲面幾何形狀聲線跟蹤

　　對于要求使用多探頭配置的應(yīng)用，多組布局已得到改進，改進后的布局可在軟件的界面中反映掃查器的配置。不同掃查的位置由它們到焊縫中心的距離決定，所提供的布局既容易理解，又漂亮直觀。

　　OmniScan產(chǎn)品系列

　　設(shè)計

　　NDT SetupBuilder

　　NDT SetupBuilder設(shè)計軟件是Olympus自動和半自動超聲檢測產(chǎn)品系列的一個*的組成部分。NDT監(jiān)控人員可以使用NDT SetupBuilder軟件模擬檢測方案，以確定所需使用的適當(dāng)?shù)穆暿鴶?shù)量和聲束角度。模擬配置可被導(dǎo)入到OmniScan，從而可減少配置時間和操作錯誤。

　　您的需要…………Olympus解決方案

　　在過去的幾年中，為滿足客戶的需求，Olympus投入了大量精力創(chuàng)建了各種完整的解決方案，并將這些方案投放到市場、付諸實踐。

　　采集

　　OmniScan

　　OmniScan探傷儀具有完成手動和自動探傷應(yīng)用的強大檢測性能。這些探傷儀可以與各種探頭、掃查器和附件配套使用，從而使Olympus成為為石油化工、航空航天及其它工業(yè)領(lǐng)域提供無損探傷解決方案的*。

　　數(shù)據(jù)分析和報告制作

　　OmniPC

　　OmniPC軟件帶有與OmniScan機載軟件相同的分析和報告工具，是用于基于PC機的OmniScan數(shù)據(jù)分析的為經(jīng)濟有效的選購項目。

　　TomoView

　　TomoView 2.10帶有高級數(shù)據(jù)處理、分析和報告工具，可以幫助用戶從檢測數(shù)據(jù)中獲得有關(guān)被檢材料的更為詳細(xì)的信息。

　　TomoView的性能如下：

　　體積融合，可進行多組數(shù)據(jù)顯示。

　　C掃描融合，用于表現(xiàn)組合數(shù)據(jù)。

　　信噪比(SNR)分析和優(yōu)化工具。

　　高級離線數(shù)據(jù)生成工具。

　　設(shè)置

　　可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設(shè)置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設(shè)置直接導(dǎo)入到OmniScan SX儀器。進行采集之前，只需在儀器中進行幾項基本操作，如：設(shè)置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設(shè)置：

　　自動探頭識別

　　單步驟、預(yù)先配置應(yīng)用的向?qū)А?/span>

　　焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬。

　　校準(zhǔn)

　　為完成一項符合規(guī)范的檢測，儀器中的校準(zhǔn)向?qū)Э梢员ＷC每組中的每個聚焦法則都直接等同于一個單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準(zhǔn)過程中，會得到向?qū)У姆植街笇?dǎo)。所校準(zhǔn)的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器?，F(xiàn)在，儀器可以自動完成TOFD PCS校準(zhǔn)與直通波矯直的操作。

　　采集

　　在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數(shù)進行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲于具有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設(shè)備中。

　　智能布局

　　全屏模式，可更好地顯示缺陷。

　　可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理

　　數(shù)據(jù)分析和報告制作

　　數(shù)據(jù)光標(biāo)、參考光標(biāo)與測量光標(biāo)用于缺陷的定量。

　　擴展的數(shù)據(jù)庫、預(yù)先定義的三角學(xué)參數(shù)列表、缺陷相對于軸的統(tǒng)計數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標(biāo)準(zhǔn)、腐蝕成像的統(tǒng)計數(shù)據(jù)等等。

　　在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。

　　優(yōu)化的預(yù)置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。

　　無論您想在計算機中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場進行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。