反射率儀 涂料反射測量儀 型號：HB-C84－Ⅱ

技術參數(shù)： 1.測量范圍：0-100
2.重復精度：0.3％
3.顯示數(shù)據(jù)與反射光強度成正比
4.儀器的光譜靈敏度近似等于Sc(λ）與y（λ）的乘機
5.環(huán)境溫度：23℃+/-5℃ ，相對濕度＜85％
6.輸入電源：220V+/-10％ 50Hz
詳細介紹： JK-C84－Ⅱ型反射率儀是為涂料、顏料、油墨等化工行業(yè)貫徹執(zhí)行
標準、標準而研制的儀器。它可用于漆膜遮蓋力的測定和反射率的測量。
該儀器*符合標準ISO3906-1980(E)、標準GB/T13452.3-92、GB9270-88、
GB5211.17-88對該儀器的規(guī)定要求。
本儀器由探頭、主機、標準板（黑白各一塊）、工作陶瓷板（黑白各兩塊）等組成。
探頭采用0度照射，漫反射接收的原理。當試樣的反射光作用于硒光電池表面時產(chǎn)生
電訊號輸入到直流放大器進行放大，并于以讀數(shù)顯示。

反射率儀 涂料反射測量儀

產(chǎn)品名稱：鈉離子濃度計 鈉離子分析儀 鈉離子計 鈉離子檢測儀 產(chǎn)品型號：MP523-02 鈉離子濃度計/鈉離子分析儀/鈉離子計/鈉離子檢測儀 型號：MP523-02   ● 符合規(guī)范的GLP要求，具有自動校準、自動溫度補償、數(shù)據(jù)儲存、RS232輸出、時鐘顯示、功能設置和自診斷信息等智能化功能。 ● 有三種不同的測量模式：穩(wěn)定顯示模式；定時測量模式；連續(xù)測量模式。 ● 鈉電量程1～7 pNa (10-1 ～10-7 mol/L)。 ● 配置電：鈉離子電，參比電，溫度電和三復合pH電。 ●配置溶液：鈉離子標準溶液，鈉電浸泡液，參比電溶液和pH校正溶液。 ● 儀器儲存10種常用的離子模式可供選擇，也可自行設定其它離子（需選購相應的離子電）。 ● 可切換四種離子濃度單位：pX、mol/L、mg/L和ppm. ● 自動識別13種pH標準緩沖溶液，有四個系列的標準緩沖溶液可以選擇：歐美系列、NIST系列、中國系列和自定義溶液。 ● 可設置高純水pH測量模式和加氨純水pH測量模式。 ● 有EH氧化還原電位測量模式，直接顯示相對于標準氫電電位的ORP值。 ● 儀器帶有的產(chǎn)品序列號。 ● 符合IP54防塵防濺等級，儀表插口有硅膠帽密封保護。   pH 測量范圍 分辨率 準確度 輸入電流 輸入阻抗 穩(wěn)定性 溫度補償范圍 （-1.999 ~ 19.999）pH 0.1/0.01/0.001 pH 電計：±0.002 pH，配套：±0.01 pH ≤1×10-12 A ≥3×1012 Ω ±0.002 pH/3h （0 ~ 100）℃（自動或手動） mV 測量范圍(mV/ORP/EH) 分辨率 準確度 -1999.9mV ~ 0 ~ 1999.9mV 0.1mV ±0.03% FS 鈉離子 測量范圍 顯示單位 準確度 輸入電流 輸入阻抗 穩(wěn)定性 溫度補償范圍 電計：（0.00~9.00）pNa；配套：（1.00~8.00）pNa pNa、mol/L、mg/L、ppm ± 0.04 pNa ≤2×10-12 A ≥1×1012 Ω ±0.01 pNa/3h （0 ~ 50）℃（自動或手動） 溫度 測量范圍 分辨率 準確度 -10℃~ 110℃ 0.1℃ 5~ 60℃范圍：±0.4℃  其余范圍：±0.8℃ 其他技術參數(shù) 數(shù)據(jù)儲存 儲存內(nèi)容 電源 通訊接口 尺寸和重量 質(zhì)量和安全認證 900組 測量值編號、測量值、溫度值、ATC或MTC狀態(tài)、測量日期、測量時間 DC9V/300mA RS232 160 × 190 × 70mm/880g ISO9001:2008, CE和CMC 工作條件 環(huán)境溫度 環(huán)境濕度 IP等級 5 ~ 35 ℃（0.01級） 15 ~ 30 ℃（0.001級） ≤75% IP54  防塵防濺

產(chǎn)品名稱： 四探針 四探針測試儀 薄膜電阻測定儀 產(chǎn)品型號： SZT-2A

 四探針 四探針測試儀 薄膜電阻測定儀 型號： SZT-2A 
1．SZT-2A 主機采用的良好電路設計，所測數(shù)值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。 
2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示）。 
3．匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據(jù)輸入厚度，自動比照并修正系數(shù)，使被測結(jié)果更精確，數(shù)據(jù)可儲藏或刪除，利于使用方保存記錄）。 
4．二代的測試架采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（于國內(nèi)市場上任何一款同類產(chǎn)品的測試架，老一代為手動）。  5. 本儀器測試電阻、電阻率、方塊電阻時，標準系數(shù)為機器自帶自調(diào)，無需另外手工調(diào)整，省去了原儀器的諸多麻煩。 
6. 本儀器的zui小分辨率為0.1mΩ 
7．主機帶有手自一體功能 
8．測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。 
9．每次測量均有內(nèi)置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。 
10．整機測量標準不確定度：≤ 2%（國內(nèi)其它廠家誤差為≤ 5% ） 
11. 技術參數(shù)： 
1)． 測量范圍： 
電阻率：10的-4次方~10的5 次方Ω-cm 
方塊電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω/□ 
電阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω 
2)． 可測半導體材料尺寸 
直徑：5mm-130mm 
長度：≤400mm 
3)． 測量方法： 
軸向、斷面均可 
4)． 顯示方式：41/2,數(shù)顯,性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。 
5)． 恒流源： 
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±1個字 
6).四探針測試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0% 
7).電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W 
8) SZT-2A 分為帶電腦接口和不帶電腦接口的兩種，帶接口功能為當硅片的厚度＜1mm時自動修正讀數(shù)，使得測量出的數(shù)據(jù)準確率為100%，被測試的數(shù)據(jù)自動生成表格并可以打印，可以隨時保存和刪除.