美國EOspace短波長調(diào)制器 參考價(jià)：面議
美國EOspace短波長調(diào)制器低損耗寬波段的強(qiáng)度和相位調(diào)制器，適合用于短波應(yīng)用。
保偏分束器 參考價(jià)：面議
低損耗保偏分束器EOSPACE 專注于制造高性能光電集成電路ICs 以及新一代光通訊組件。EOSPACE 的產(chǎn)品具有極低的插入損耗以及寬波段，基于的LiNbO3...
美國EOspace 1x2 和 2x2 雙輸出調(diào)制器 參考價(jià)：面議
美國EOspace 1x2 和 2x2 雙輸出調(diào)制器12.5, 20,和 40 Gb/s 強(qiáng)度調(diào)制器可以封裝為雙補(bǔ)償輸出
激光器 參考價(jià)：面議
激光器拉曼光譜使用的多模激光分系統(tǒng)/Laser-785 拉曼光譜儀激發(fā)激光高功率，多模穩(wěn)定的激光分系統(tǒng)的特點(diǎn)是高輸出功率和窄的光譜帶寬。不論實(shí)際溫度如何，該系統(tǒng)...
帶光束整形的激光模塊 參考價(jià)：面議
帶光束整形的激光模塊激光線發(fā)生器，激光微焦點(diǎn)和圖案發(fā)生器例如用于使用激光三角測量或激光切割技術(shù)的3D測量任務(wù)。 所有型號(hào)都可以使用內(nèi)部電子元件。
84499C紅外觀察儀 參考價(jià)：面議
84499C紅外觀察儀，適用于近紅外波長范圍的測量。FJW紅外觀察儀由高分辨率圖像轉(zhuǎn)換器，高壓電源，Infragon物鏡和其他精密光學(xué)部件組成，能夠觀察到肉眼無...
CaliBall™干涉校準(zhǔn)設(shè)備 參考價(jià)：面議
CaliBall™干涉校準(zhǔn)設(shè)備通過使用任意球壓試驗(yàn)（RBT），CaliBall™用于校準(zhǔn)干涉儀傳輸球形。任意球壓試驗(yàn)曾經(jīng)非常流行，但是受...
愛特蒙特光束質(zhì)量分析儀 參考價(jià)：面議
愛特蒙特光束質(zhì)量分析儀設(shè)計(jì)用于測量各種激光光束尺寸。備有220萬像素的分辨率，可為小光束提供準(zhǔn)確分析，同時(shí)也備有大光束分析所需的大面積傳感器。隨附的軟件備界面直...
紅外輻射源，TO39，帶反射鏡和濾光片A2 參考價(jià)：面議
紅外輻射源，TO39，帶反射鏡和濾光片A2用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源。MEMS紅外發(fā)射器的高性能膜由納米非晶碳組成，其膜溫度高達(dá)850&...
紅外輻射源，TO39，帶反射鏡和濾光片A4 參考價(jià)：面議
紅外輻射源，TO39，帶反射鏡和濾光片A4用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源。MEMS紅外發(fā)射器的高性能膜由納米非晶碳組成，其膜溫度高達(dá)850&...
紅外輻射源TO39帶反射鏡濾光片A4 參考價(jià)：面議
紅外輻射源TO39帶反射鏡濾光片A4用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源 MEMS紅外發(fā)射器的高性能膜由納米非晶碳組成，其膜溫度高達(dá)850...
紅外輻射源，TO39，帶反射器，開式 參考價(jià)：面議
紅外輻射源，TO39，帶反射器，開式用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源。MEMS紅外發(fā)射器的高性能薄膜由納米非晶碳組成，其薄膜溫度高達(dá)850&#...
紅外輻射源，TO46，帶蓋和濾光片A1 參考價(jià)：面議
紅外輻射源，TO46，帶蓋和濾光片A1用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源。MEMS紅外發(fā)射器的高性能薄膜由納米非晶碳組成，其薄膜溫度高達(dá)850&...
紅外輻射源，TO46，帶蓋和A4濾光片 參考價(jià)：面議
紅外輻射源，TO46，帶蓋和A4濾光片用于NDIR氣體分析和其他紅外測量應(yīng)用的紅外輻射源。MEMS紅外發(fā)射器的高性能薄膜由納米非晶碳組成，其薄膜溫度高達(dá)850&...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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