LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀是一款全自動(dòng)、高準(zhǔn)確性、高分辨率、高重現(xiàn)性以及操作非常簡(jiǎn)單的干濕兩用粒度分析儀，采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進(jìn)樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利；PIDS技術(shù)（4953978，5104221），真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑二兩；直觀的軟件和觸摸屏設(shè)計(jì)，大大簡(jiǎn)化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開啟全新的測(cè)量體驗(yàn)！

 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

1、寬測(cè)量范圍：10nm~3,500μm

提供真實(shí)（峰值）、高分辨率的測(cè)試數(shù)據(jù)，下限低至10nm，上線高達(dá)3,500μm。

2、升級(jí)版PIDS技術(shù)：偏振光強(qiáng)度差散射

提高原始數(shù)據(jù)檢測(cè)精度，提高檢測(cè)器檢測(cè)垂直和水平偏振散射光的靈敏度，真正實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)力度分析 – 以往極難達(dá)到的測(cè)量能力

3、多峰自動(dòng)檢測(cè)

測(cè)量前無需估計(jì)粒度分布情況（比如多峰、窄分布），便可獲得正確的測(cè)量結(jié)果。

4、簡(jiǎn)單、直觀的操作軟件

      ·   從開始測(cè)量到獲得結(jié)果僅需2次點(diǎn)擊

      ·   包含一個(gè)集成的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)

      ·   隨時(shí)向您通報(bào)有用的用戶診斷報(bào)告

      ·   精簡(jiǎn)的工作流不僅易于使用，更節(jié)省時(shí)間

驗(yàn)證

這是《生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范（GMP）》和其它法規(guī)要求所必須的。

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗(yàn)證程序，可滿足安裝驗(yàn)證（IQ）和運(yùn)行驗(yàn)證（OQ）所需。

簡(jiǎn)單易用的軟件

簡(jiǎn)化您的日常工作

比以往更高效的粒度分析

LS 13 320 XR軟件的功能界面更加直觀，非常易于使用，您無需具備大量的操作知識(shí)便可輕松獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

開始測(cè)量

檢測(cè)方法一旦在LS 13 320 XR軟件中設(shè)定，僅需點(diǎn)擊2次便可開始測(cè)量。選擇預(yù)先設(shè)定的方法，編輯樣品信息，然后點(diǎn)擊開始測(cè)量。

儀器自檢結(jié)果

儀器配備有自檢診斷功能，測(cè)試過程中隨時(shí)顯示測(cè)量情況。

自動(dòng)合格/不合格管理、實(shí)驗(yàn)直接質(zhì)控

為檢驗(yàn)樣品合格/不合格，LS 13 320 XR軟件自動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果標(biāo)注綠色或紅色，提示其是否符合所需規(guī)格。因此，無論操作人員經(jīng)驗(yàn)如何，均可通過該功能迅速了解樣品質(zhì)量情況。

導(dǎo)航輪

顯示和導(dǎo)出數(shù)據(jù)僅需點(diǎn)擊1次。

重磅創(chuàng)新

幫助您準(zhǔn)確測(cè)量細(xì)微差異

細(xì)節(jié)尤為重要！樣本間極細(xì)微的差異，會(huì)導(dǎo)致成品間出現(xiàn)巨大差異。

這也是為什么LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀采用132枚檢測(cè)器的原因，其可以提供更高的分辨率，獲得更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果，同時(shí)實(shí)現(xiàn)10nm-3,500μm的寬范圍測(cè)量。

X-D陣列檢測(cè)器-確保高分辨率的準(zhǔn)確測(cè)量

·   設(shè)計(jì)的X型對(duì)數(shù)排布檢測(cè)器陣列，可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，獲得真實(shí)準(zhǔn)確的粒度分布

·   132枚檢測(cè)器能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，快速、準(zhǔn)確的提供真實(shí)粒度分布

·   優(yōu)化的檢測(cè)器信噪比，大大提高了檢測(cè)到散射光強(qiáng)譜圖細(xì)微變化的能力

·   亞微米檢測(cè)區(qū)域，應(yīng)用6枚檢測(cè)器對(duì)三種不同波長(zhǎng)的光在垂直和水平偏振方向上進(jìn)行36個(gè)單獨(dú)檢測(cè)，提供納米級(jí)顆粒優(yōu)異的準(zhǔn)確性和高分辨率

多峰樣品自動(dòng)檢測(cè)，更放心

·   憑借業(yè)界出眾的技術(shù)，無需預(yù)估樣品峰型，無需選擇分析模型，輕松準(zhǔn)確分析多峰樣品，讓您對(duì)測(cè)試結(jié)果更放心

·   準(zhǔn)確性誤差優(yōu)于±0.5%

·   重復(fù)性誤差優(yōu)于±0.5%

重磅創(chuàng)新

真正實(shí)現(xiàn)納米級(jí)測(cè)量

創(chuàng)新不止，重磅升級(jí)，基于升級(jí)版PIDS技術(shù)，LS 13 320 XR真正實(shí)現(xiàn)納米級(jí)測(cè)量，提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析，下限可準(zhǔn)確檢測(cè)至10nm！

PIDS技術(shù)：偏振光強(qiáng)度差散射

傳統(tǒng)方法測(cè)量亞微米顆粒的散射光強(qiáng)譜圖在形狀和強(qiáng)度上都非常相似，區(qū)分比較困難，因此當(dāng)測(cè)量亞微米顆粒時(shí)，優(yōu)于分辨率低而造成不準(zhǔn)確的粒度測(cè)量。

而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識(shí)別的重要信息。PIDS技術(shù)采用了3種不同波長(zhǎng)的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，然后為水平偏振，通過分析每個(gè)波長(zhǎng)的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準(zhǔn)確的粒度分布信息。升級(jí)版PIDS技術(shù)從光源到濾波器再到檢測(cè)器都進(jìn)行了全面的升級(jí)，使得測(cè)量亞微米顆粒的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。

LS 13 320 XR光學(xué)平臺(tái)進(jìn)樣模塊及配件

LS 13 320 XR技術(shù)參數(shù)

美國(guó)貝克曼庫(kù)爾特公司于1997年由貝克曼公司和庫(kù)爾特公司合并成立，貝克曼庫(kù)爾特研發(fā)專家以其嚴(yán)謹(jǐn)、專業(yè)的態(tài)度，陸續(xù)不斷地開發(fā)出一系列優(yōu)異的*的技術(shù)，為全球的用戶奉獻(xiàn)出一款款令人矚目的產(chǎn)品：新一代高分辨率的庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)及粒度分析儀Multisizer 4e、PIDS的多波長(zhǎng)激光衍射粒度分析儀LS系列、快速Zeta電位及納米粒度分析儀DelsaMax系列等。

擁有數(shù)十年顆粒表征分析歷史的貝克曼庫(kù)爾特公司始終專注于為全球用戶創(chuàng)造更多的價(jià)值。眾多應(yīng)用領(lǐng)域如食品、制藥、化工等和國(guó)際組織如美國(guó)ASTM，國(guó)家航空航天局（NASA）等均將貝克曼庫(kù)爾特的技術(shù)和產(chǎn)品定為標(biāo)準(zhǔn)方法或質(zhì)量控制的專用儀器。秉承“為全球客戶提供富于創(chuàng)新和值得信賴的科學(xué)解決方案"的使命，貝克曼庫(kù)爾特不忘初心，不斷創(chuàng)新，致力于為客戶提供完整高效的顆粒表征及粒度分析解決方案。