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XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于環(huán)境下的精密測量。它可作為微量天平單獨使用，也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù)，可在高溫、高壓條件下進行重量吸附分析，也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。
產(chǎn)品特點
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外部感知技術(shù)，把敏感元件置于天平室外部，允許腐蝕性和易燃氣體的操作
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幾何對稱、精密設(shè)計的微量天平
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內(nèi)部容積小化
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大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和長期穩(wěn)定性±5μg
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寬動態(tài)稱量范圍（0-200毫克）
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操作壓力高達200bar
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單獨的反應(yīng)器可進行從77 K到773 K的全溫度范圍測量
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無需重新歸零或原位校準
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采用IGA*的終點預(yù)測方法
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全金屬結(jié)構(gòu)由高品質(zhì)的VCR裝配
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模塊化設(shè)計，與所有配件兼容且可升級
