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            目錄:深圳東儀精工設(shè)備有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>透過(guò)率測(cè)試儀器>> DMS-2IR孔透過(guò)率測(cè)試儀

            IR孔透過(guò)率測(cè)試儀
            • IR孔透過(guò)率測(cè)試儀
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            參考價(jià) 78888
            訂貨量 ≥1臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            78888
            ≥1臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 其他品牌
            • 型號(hào) DMS-2
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 深圳市
            屬性

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            更新時(shí)間:2024-10-29 15:11:12瀏覽次數(shù):2624評(píng)價(jià)

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            IR孔透過(guò)率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。
              簡(jiǎn)介
             
              IR孔透過(guò)率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。
             
              特點(diǎn)
             
              智能化軟件操作:可自定義測(cè)量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。
             
              譜圖管理:IR孔透過(guò)率測(cè)試儀可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測(cè)量結(jié)果,記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間,能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
             
              自定義測(cè)量方案:用戶可以自行定義測(cè)量的方案,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確。
             
              譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫(kù),可根據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果,用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。
             
              CIE顏色測(cè)量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù),x,y,L,a,b,飽和度,主波長(zhǎng)等。
             
              數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱。
             
              技術(shù)參數(shù)
             
              型號(hào)DMS(1型)DMS(2型)
             
              探測(cè)器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
             
              檢測(cè)范圍380-1000nm360-1100nm
             
              波長(zhǎng)分辨率1nm1nm
             
              信噪比(全信號(hào))250:11000:1
             
              相對(duì)檢測(cè)誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
             
              單次測(cè)量時(shí)間﹤1s
             
              樣品尺寸≥Φ1mm
             
              操作系統(tǒng)/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
             
              電源/功率220V-50HZ/6W

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