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            目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>阻抗分析儀>> JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀

            JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀
            • JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀
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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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            • 品牌 其他品牌
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
            屬性

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            >

            更新時間:2025-02-12 14:33:48瀏覽次數(shù):1561評價

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            JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀是一款新的使用自動平衡電橋技術(shù)及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~25MHz,最小分辨率1mHz,基本測量精度可達(dá)0.05%。,提供內(nèi)部偏置電壓±40V偏置電壓源,有多種測試夾具電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運算功能,是壓電材料,電阻,電容,電器等得重要檢測設(shè)備。


            JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀(自動平衡,內(nèi)置電壓)

            20180606150211121112.jpg

             

            關(guān)鍵詞:高精度,自動平衡,電導(dǎo)率

            JKZC-JMZK25高頻精密壓電阻抗分析儀是一款新的使用自動平衡電橋技術(shù)及四端對開爾文測試端、測量頻率范圍涵蓋20Hz~25MHz,最小分辨率1mHz,基本測量精度可達(dá)0.05%。,提供內(nèi)部偏置電壓±40V偏置電壓源,有多種測試夾具電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運算功能,是壓電材料,電阻,電容,電器等得重要檢測設(shè)備。

            一、產(chǎn)品應(yīng)用范圍:

            1、高頻壓電材料器件科學(xué)研究

            2、高頻壓電材料的用于評定壓電陶瓷片性能優(yōu)劣

            3、高頻壓電材料阻抗分析

            4、半導(dǎo)體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性

            5、液態(tài)介電、介電治具和導(dǎo)磁系數(shù)參數(shù)測量

            6、等效電路模型分析等功能測試

            7、可以配合高溫平臺進(jìn)行材料多參數(shù)聯(lián)合測試

            二、規(guī)格參數(shù):

            1.測試頻率:20HZ-10MHZ,15MHZ,25MHZ多種可選

            2.測試電平:.005-5Vrms(<=1MHz)  0.005-1Vrms(>1MHz)

            3.內(nèi)部直流偏置電壓 :-5V~+5V或是:-40V~+40V

            4.控壓方式:全頻操作

            5.基本準(zhǔn)確度: 0.1%

            4.測試參數(shù):C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

            5.基本準(zhǔn)確度: 0.05%, 

            6.顯示器: 350×260點陣圖形LCD液晶顯示

            7.可測量22種阻抗參數(shù)組合

            8.接口方式:RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB(選件)

            9.電壓:AC-220V

            10.體積:450mmx135mmx420mm

            11.重量:3.5KG

            12.顯示方式:液晶顯示

            13.可以配合ZJ-3,ZJ-6型壓電測試儀測試g33系數(shù)

            14.觸發(fā)方式:手動,內(nèi)觸發(fā),外觸發(fā)

             

             

             

            自動平衡電橋技術(shù)

            以往低端簡化的運放阻抗測量電路如下圖:


            以上電路在實際運作時,隨著頻率的升高,虛地點會越來越不理想,導(dǎo)致流過被測件DUT的電流信號不能全部進(jìn)入IV轉(zhuǎn)換標(biāo)準(zhǔn)電阻Rr,所以會造成測量誤差越來越大。

            JKZC-JMZK25使用的自動平衡電橋測試原理,把上圖簡易的測量運放改進(jìn)成:Lpot檢零電路,090度數(shù)字檢相及調(diào)制解調(diào)電路,Lcur高頻驅(qū)動電路等等組成的矢量負(fù)反饋網(wǎng)絡(luò)。從而保證了測量電路的虛地端更接近理想。下面2圖是簡易運放阻抗測量電路以及自動平衡電橋阻抗測量電路Lcur(虛地點)的波形實測對比:

            使用簡易運放阻抗測量電路1MHz測量6.8nF Lcur(虛地點)實測波形如下:


            使用自動平衡電橋阻抗測量電路1MHz測量6.8nF Lcur(虛地點)實測波形如下:


            以上可見,使用簡易運放阻抗測量電路虛地端電壓峰峰值高達(dá)59mV,而使用自動平衡電橋原理的虛地端電壓峰峰值僅為2mV,所以:使用自動平衡電橋的虛地性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于使用一個簡易運放做測量的電路。

            主要測量頁面

            測量顯示:


             

             


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