目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電磁學性能測試儀>>微波介質材料電磁特性參數>> XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀
| 價格區(qū)間 | 80萬-100萬 | 應用領域 | 電子,冶金,航天,汽車,電氣 |
|---|---|---|---|
| 頻率范圍 | 0.1~110.0GHz |
XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀
諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發(fā)展，諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發(fā)揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發(fā)的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網絡分析儀和試夾具于一體，可進行30MHz到110GHz頻率范圍內的微波復介電常數測試。該系列產品精度高、接口豐富，在科研實驗中能發(fā)揮十分重要的作用。
高溫介電溫譜測試儀主要特點：
1、 測試精度高，速度快
2、 頻率范圍: 0.1~110.0GHz
3、 系統配置簡單，易操作，測量軟件簡單易用，自動化程度高
主要技術參數：
1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz
2、測試溫度:-50~1750℃
3、電磁參數測試范圍: er'= 1.0~100，tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0，tanou =1.0×103~1.0
一、諧振腔微擾法測試設備
頻率范圍:0.1~40.0GHz測試溫度:室溫～1750℃復介電常數測試范圍:
cr'= 1.0 ~30.0
tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10
tanou = 0.001 ~1.0常溫測試誤差:
|Asr'/er'\≤1.5%當sr'=2.0 ~30.0
Acr'|≤ 2.0% × cr'+0.02當r'=1.05~2Atanoe≤ 15.0% tano8+ 2.0x10-4
Aur'/ur'\≤5.0%
Atanou|≤ 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸:
圓棒或方棒狀小樣品材料，直徑:1.0~6.Omm，高度不低于30mm;
(實際尺寸視具體情況而定)
2、高Q腔法測試設備
頻率范圍:2.0~7.0 GHz、7.0 ~18.0 GHz測試溫度:室溫~1600℃
復介電常數測試范圍:
cr'=l~10
tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測試誤差:
|Acr'/cr'\≤2.0%當sr'=2~10
Acr'|≤ 1.8%x Er'+0.02當sr'=1.05~2Atanoe| ≤ 15% tanoe +1.0×10-4
樣品尺寸:
2.0~7.0GHz
圓片材料直徑:150.0mm，厚度:3.0 ~10.Omm
7.0~18.0 GHz
圓片材料直徑:50.0mm，厚度:1.5~3.0mm
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