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            目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測(cè)試儀>>壓電高壓放大器>> SCTS-2000系型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀

            SCTS-2000系型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
            • SCTS-2000系型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
            參考價(jià) 9999
            訂貨量 ≥1臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            9999
            ≥1臺(tái)
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 Microtrac/拜爾
            • 型號(hào)
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
            屬性

            應(yīng)用領(lǐng)域:電子,交通,航天,汽車,電氣

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            更新時(shí)間:2025-02-12 16:35:48瀏覽次數(shù):1005評(píng)價(jià)

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            SCTS-2000系型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高正確度,特

            SCTS-2000系型雙電測(cè)式四探針測(cè)試儀

            關(guān)鍵詞:雙電測(cè),導(dǎo)電薄膜,導(dǎo)體


            SCTS-2000系型雙電測(cè)式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高正確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

            一、主要特點(diǎn):

            1、根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

            2、也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。

            3、換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

            4、由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。

                  

            二、基本技術(shù)參數(shù)

            3.1  測(cè)量范圍

                電阻率:1×10-42×105 Ω-cm,分辨率:1×10-51×102 Ω-cm

                方  阻:5×10-42×105 Ω/□,分辨率:5×10-51×102 Ω/

                電  阻:1×10-52×105 Ω   ,分辨率:1×10-61×102 Ω

            3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)

                直   徑:圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15130mm,手持方式不限

                SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.

                長(zhǎng)()度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H100mm,    手持方式不限.

                測(cè)量方位軸向、徑向均可

            3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表:

                (1)量程: 20.00mV2000mV

                (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±

            3.4  數(shù)控恒流源

               (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA100mA,1A

               (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±

            3.5  四探針探頭(選配其一或加配全部)

               (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 02kg 可調(diào)

               (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 00.6kg 可調(diào)

            3.6 電源

               輸入: AC 220V±10% ,50Hz          耗:<20W

            3.7 外形尺寸:

               主機(jī)  220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm(高)



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