目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料高溫電學(xué)測(cè)試儀>>高溫介電測(cè)試儀>> HLDT-400型高低溫介電溫譜測(cè)試儀
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更新時(shí)間：2025-02-13 10:49:43瀏覽次數(shù)：338評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,航天,綜合 |
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HLDT-400型高低溫介電溫譜測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：介電，頻譜、阻抗譜、電模量,高溫
產(chǎn)品介紹：
HLDT-400型高低溫介電溫譜測(cè)試儀適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高低溫測(cè)試箱、高低溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連接，測(cè)量在不同溫度、不同測(cè)試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數(shù)，通過(guò)計(jì)算獲得復(fù)介電常數(shù)、電模量等參數(shù)，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高，數(shù)據(jù)圖標(biāo)豐富多樣。
兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表；同時(shí)具有單通道和4通道測(cè)量模式，單通道模式適用于追求超高精度測(cè)量結(jié)果的場(chǎng)合，4通道模式適用于追求測(cè)試效率和較高精度測(cè)量結(jié)果的場(chǎng)合，并可實(shí)現(xiàn)同環(huán)境對(duì)比電性能；樣品腔預(yù)留接入氣體接口，可實(shí)現(xiàn)惰性氣氛的環(huán)境測(cè)量；可為多個(gè)樣品提供均勻分布的溫度場(chǎng)，實(shí)現(xiàn)J確的溫度控制和測(cè)量，0 ℃測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)水峰。
配置的高低溫測(cè)試箱，以液氮為制冷劑，以電阻絲為加熱元件，采用T型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用全金屬爐膛，高溫可達(dá)400℃，低溫可達(dá)-180℃，控溫精度±0.1℃；同時(shí)設(shè)有通氣接口，可用于惰性氣體下使用。具有溫度場(chǎng)均衡、控溫準(zhǔn)、升降溫速率快等優(yōu)點(diǎn)。
配置的高低溫測(cè)試夾具，內(nèi)置1～5根高低溫測(cè)試探針，測(cè)試時(shí)，系統(tǒng)軟件控制多通道切換器分時(shí)復(fù)用阻抗分析儀，實(shí)現(xiàn)1～ 5個(gè)通道同步、同環(huán)境對(duì)比電性能測(cè)試，提高測(cè)試效率.
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：測(cè)量精度高，控溫準(zhǔn)，溫度場(chǎng)均勻分布，0 ℃測(cè)試數(shù)據(jù)無(wú)水
系統(tǒng)軟件擁有完善的測(cè)量和分析功能，直接得出介電常數(shù)與溫度的介電溫譜；不同溫度下進(jìn)行頻率掃描，直接得出介電常數(shù)的頻譜、阻抗譜、電模量、 Cole-Cole圖；直接得出機(jī)械因數(shù)0m；集測(cè)量、分析、圖標(biāo)顯示于一體集成化設(shè)計(jì)。
二、主要技術(shù)參數(shù):
樣品類(lèi)型 | 塊體、膜 | Z大溫度范圍 | -180~400℃ |
Z大樣品厚度 | 3 mm | 控溫精度 | ±0.1℃ |
Z大樣品尺寸 | Ф20 mm | 升降溫速率 | 1~10℃/min |
測(cè)試通道 | 單通道+4通道 | 降溫控制 | 注入液氮 |
電極類(lèi)型 | 鉑-鉑電極 | 控溫模式 | 變溫、恒溫 |
保護(hù)措施 | 具有控溫故障診斷監(jiān)控、超溫自動(dòng)斷電保護(hù)功能 | ||
系統(tǒng)與是德科技 Agilent4980A、穩(wěn)科 WK6500B、益和 6630、同惠電子 TH2827C 無(wú)縫連接，也可與客戶定型號(hào)阻抗分析儀配套使用。 | |||
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