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            目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>鐵電測試儀>> GWTD-5000型高溫鐵電測試儀

            GWTD-5000型高溫鐵電測試儀
            • GWTD-5000型高溫鐵電測試儀
            參考價 1111
            訂貨量 ≥1
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            1111
            ≥1
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 其他品牌
            • 型號
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 北京市
            屬性

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            >

            更新時間:2025-02-13 15:56:06瀏覽次數(shù):185評價

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            GWTD-5000型高溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的高溫鐵電測試儀,也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

            GWTD-5000型高溫鐵電測試儀

            關(guān)鍵詞:疲勞測試頻率,動態(tài)電滯回線,高低溫探針臺

            GWTD-5000型高溫鐵電測試儀

             

            GWTD-5000型高溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的高溫鐵電測試儀,也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

            鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

            a. 外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國產(chǎn)、進(jìn)口均適用);

            b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz;

            c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展);

            d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

            e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;

            f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊;

            g.溫度范圍:RT~200℃。

            本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)高溫環(huán)境下的滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

            本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。

            高溫鐵電測試儀測試功能:

            動態(tài)電滯回線DHM

            靜態(tài)電滯回線SHM

            I-V特性

            脈沖PUND

            疲勞Fatigue

            電擊穿強(qiáng)度BDM

            漏電流LM

            電流-偏壓

            保持力RM

            印跡印痕IM

            變溫測試THM。


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