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            喜愛72DL PLUS超聲波測厚儀的8個理由

            閱讀:508      發(fā)布時間:2022-7-18
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            72DL PLUS™ 超聲波測厚儀,一款能夠測量超薄和多層材料的高頻高速儀器。這款便攜式、易于操作的儀器可以解決各行業(yè)的廣泛性的棘手的厚度測量應用,比如汽車、航空航天、制造和發(fā)電等行業(yè)。了幫助您熟悉,本文將探討我們在您的檢測工作流程中采用72DL PLUS測厚儀的主要原因。


            精密測厚:如何開始與如何進行


            更高的頻率使您能夠測量更薄的測試材料。過去,大多數(shù)精密超聲波測厚儀的最大頻率限于為20 MHz左右,最小測量厚度僅為0.005英寸(0.127 mm)左右。


            現(xiàn)在,72DL PLUS測厚儀驅動頻率高達125 MHz,您可以進行超過傳統(tǒng)超聲波測厚儀最小厚度能力的測量,最小測量厚度為0.001英寸(0.025 mm)或更薄。72DL PLUS測厚儀的高速(高達2 kHz測量速率和60 Hz屏幕刷新)足以優(yōu)化您的測量工作流程,無論您使用的是高頻或低頻的探頭。


            這個能力結合用戶友好的界面,使72DL PLUS測厚儀成為支持不同頻率的大厚度范圍測量的利器。以下是推薦采用72DL PLUS測厚儀的八個原因:


            測量比以往更薄的材料


            使用72DL PLUS測厚儀,基于應用,可以測量單層材料低至約0.0005英寸(0.0127 mm)。例如,您可以測量低至0.008英寸(0.20 mm)單層鋼片和約0.0005英寸(0.0127 mm)單層塑料膜。要注意的是,最小厚度測量能力取決于探頭頻率、探頭類型和待測試材料。


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            一次顯示多達6層的厚度


            激活多層測量軟件選項,72DL PLUS測厚儀可以測量一系列多層材料,包括油漆、塑料、金屬和涂層。它甚至具有同時顯示多達六層厚度的能力,比38DL PLUS ™ 多出兩層測量能力。


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            高速厚度測量


            高速厚度測量對于時間敏感應用(如渦輪葉片測量)非常重要。作為一款測量速度高達2 kHz的高速儀器,極大地提高了生產(chǎn)車間的周轉率。


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            通過5種多功能測量視圖監(jiān)測厚度變化


            雖然我們的手持式測厚儀的屏幕較小,但72DL PLUS測厚儀采用全彩7英寸的觸摸屏,具有高可視性。儀器支持五種不同測量視圖—A掃描、B掃描、A/B掃描、趨勢線和縮放,以幫助發(fā)現(xiàn)和跟蹤厚度變化。


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            簡易設置簡化厚度測量


            該測厚儀簡化了日常厚度測量的儀器設置過程,無需在每次測量之前手動選擇和調整設置。只需進入啟動屏幕上的“我的應用"菜單,菜單將引導您完成創(chuàng)建應用程序的每個步驟?;蛘撸梢允褂肞C接口應用程序從電腦創(chuàng)建應用程序。


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            易于收集、回顧和管理厚度數(shù)據(jù)


            內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄和機載文件管理實現(xiàn)了高效的厚度數(shù)據(jù)采集和處理,而電腦端的PC界面應用程序支持交互工具,便于查看和管理多個設備和部件的數(shù)據(jù)。通過無線進行連接,儀器可以支持連接到‘云’端,實現(xiàn)工業(yè)4.0實踐。它能夠連接到奧林巴斯科學事業(yè)云™ (OSC),助您訪問基于云的免費的的功能。


            工業(yè)環(huán)境中的更耐用


            與我們所有的測厚儀一樣,該儀器的設計目標是在惡劣的工業(yè)環(huán)境中延長運行時間。它具有較好的堅固性(MIL-STD-810G),做好意外跌落或沖擊的防護,并可抵抗灰塵和濕氣(設計符合IP65)。該儀器可在高溫和寒冷氣候下進行可靠測量,工作溫度范圍廣(–10°C至50°C或14°F至122°F)。


            兼容各種探頭于不同厚度應用


            72DL PLUS測厚儀與標準頻率(0.2–30 MHz)和高頻(20–125 MHz)探頭兼容。為了支持超薄材料測量的應用,我們擴大了高頻探頭的產(chǎn)品線。M2102(75 MHz)和M2104(125 MHz)是耐用的接觸式探頭,可實現(xiàn)非常小的頻率衰減和理想的檢測范圍。其它探頭解決方案,包括改進的給水耦合裝置,均在開發(fā)中,以支持客戶的特定需求。


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            OLYMPUS現(xiàn)有的用于超薄材料測量的高頻探頭的一部分。左到右:B126給水耦合裝置和M2104探頭,M2104探頭,M2102探頭,V215BB探頭及展示接觸面的M2104探頭。



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