目錄:儀景通光學(xué)科技（上海）有限公司>>工業(yè)內(nèi)窺鏡>>孔探儀>> IPLEX NX奧林巴斯 孔探儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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IPLEX NX奧林巴斯 進(jìn)口探傷儀將工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡中高品質(zhì)圖像與直觀的用戶界面、人性化設(shè)計和任何環(huán)境中的長時間有效檢查結(jié)合在一起。IPLEX NX擁有清晰、明亮的圖像和強(qiáng)大的測量性能，為超越客戶的期望而設(shè)計。
圖像
即使在昏暗的地方，或反射強(qiáng)烈的地方也可以用明亮而清晰的圖像來檢測廣大區(qū)域中細(xì)微的缺陷。IPLEX NX的技術(shù)意味著用戶可以獲得用于快速、精確檢查的高品質(zhì)圖像。
IPLEX NX | 傳統(tǒng)型號 (IPLEX FX) | ||
分辨率 顯示細(xì)微的缺陷 | 腐蝕/ 燒蝕的材料 | ||
出色的亮度 照亮整個大的腔體 | 渦輪機(jī) | ||
真實(shí)的色彩還原 呈現(xiàn)出鮮明的細(xì)節(jié) | 焊接 | ||
先進(jìn)的降噪性能 改善了實(shí)時圖像畫質(zhì) | 燃燒室 |
擴(kuò)展的測量能力
IPLEX NX奧林巴斯 孔探儀設(shè)計能夠進(jìn)行精確的3D測量。融入了奧林巴斯公司先進(jìn)的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡技術(shù)，能夠完成精確而有效檢測。
超廣角立體測量
立體測量功能用于測量缺陷的尺寸和深度，比如檢查過程中發(fā)現(xiàn)的裂縫。重新設(shè)計的光學(xué)系統(tǒng)和算法極大地擴(kuò)展了檢查面積——面積和距離分別擴(kuò)展了4倍和2倍。
更大的檢查面積使用戶能夠更容易地觀察更大的缺陷。
* 即使從兩倍遠(yuǎn)的距離進(jìn)行測量，IPLEX NX也能與傳統(tǒng)型號一樣精確。
** 如果φ6.0mm內(nèi)窺鏡與直視立體光學(xué)適配器配套使用，IPLEX NX對角線長度對應(yīng)的檢測區(qū)域幾乎是傳統(tǒng)型號的四倍。
參考: 實(shí)際的視角比本示意圖顯示的更寬。
多點(diǎn)物距測量
IPLEX NX孔探儀擁有*的多點(diǎn)物距測量功能，能夠?qū)崟r測量從內(nèi)窺鏡*到檢查表面上多個點(diǎn)之間的距離。該功能提供了實(shí)時表面信息，不會暫停或中斷檢查。
提高了檢查效率
IPLEX NX操作簡單方便，即使面對長時間檢查過程，由于NX擁有可更換的插入管單元和TrueFeel插入管精準(zhǔn)導(dǎo)向
可更換的內(nèi)窺鏡插入管套件 TrueFeel
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