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            篤摯儀器(上海)有限公司

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            菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀上海經(jīng)銷

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            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào):

            品       牌: Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

            廠商性質(zhì):代理商

            所  在  地:上海市

            更新時(shí)間:2023-11-11 21:49:54瀏覽次數(shù):923

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            菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀上海經(jīng)銷
            CMS2在任何基材上測(cè)量幾乎任何金屬涂層(包括多層)的厚度; 它通過(guò)陽(yáng)極溶解(DIN EN ISO 2177)根據(jù)庫(kù)侖法進(jìn)行工作。 簡(jiǎn)單的處理和菜單支持的操作員指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品零件進(jìn)入檢驗(yàn)的理想解決方案。

            菲希爾Couloscope CMS2 庫(kù)侖法測(cè)厚儀上海經(jīng)銷

            COULOSCOPE  CMS STEP可以通過(guò)定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來(lái)方便地測(cè)出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過(guò)RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
            在電鍍行業(yè)中,對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度及電極電位的測(cè)定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求,德國(guó)Fischer庫(kù)倫測(cè)厚儀CouloScope CMS STEP正是應(yīng)此而成功研制并大量應(yīng)用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度,并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù)。 


            特征:
            標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504
            大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏,可顯示文字與圖形:126 * 70 mm
            可設(shè)置和儲(chǔ)存:50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組;3 000個(gè)數(shù)據(jù)
            統(tǒng)計(jì):平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
            使用多層菜單和軟鍵,使操作更方便
            RS232 接口可通過(guò)電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
            模擬輸出: 0 ~ -18V
            輸入阻抗: > 2 KΩ
            工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃
            儀器重量: 6 kg 
            電源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA
            尺寸: 350W * 140H * 200D  mm
            COULOSCOPECMS
            COULOSCOPECMS STEP
            庫(kù)侖鍍層厚度測(cè)試儀
            分步測(cè)量: 鍍層厚度和電位差
            測(cè)量:
            Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
            基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
            COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫(kù)倫測(cè)厚儀基本配置:
            儀器:Couloscope CMS
            測(cè)量臺(tái): V24、V26、V18 等 
            電解液: F1 ~ F22
            作為測(cè)量鍍層厚度zui簡(jiǎn)單的方法之一,庫(kù)侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測(cè) 量時(shí),它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 
            很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi), 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都 是無(wú)關(guān)緊要的。

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